中古 CDE RESMAP 273 #293665012 を販売中

CDE RESMAP 273は、半導体ウェーハの重要な特性を迅速かつ正確に測定するために設計された自動ウェーハ試験および計測装置です。高精度で高速なデバイスで、1つのウエハで数多くの測定を瞬時に行うことができます。高度なイメージングユニットを搭載し、ウェーハを最適化して測定することができます。この精密機械は、イメージキャプチャと分析ボード、ウェハハンドリングボード、イメージピクセルプロセッサ、およびデータ結果プロセッサの4つの主要コンポーネントからなるモジュラーアーキテクチャで設計されています。イメージキャプチャおよび分析ボードは、照射されたレーザー光を使用してウェーハの表面を分析します。画像はウエハハンドリングボードに転送され、ウエハーの実際の操作を担当します。画像ピクセルプロセッサは、自動アルゴリズムを使用して重要な機能を測定するために、いくつかの異なるタイプの画像解析を実行します。データ結果プロセッサは、画像ピクセルプロセッサから解析を受け取り、メモリに保存します。データをさらに分析したり、外部デバイスに転送したりすることができ、さらなる分析や意思決定を行うことができます。さらに精度を高めるために、ウェハサイズ、形状、位置の測定も可能なオプションの位置検証アセットを備えています。自動化された機能に加えて、RESMAP 273は手動解析機能も提供します。これには強力なインタラクティブなグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれており、ウェーハからデータを識別して解釈することが容易になります。また、テストレシピの豊富なライブラリを備えているため、さまざまなウェハ特性のテストを簡単に設定できます。CDE RESMAP 273は、半導体ウェーハ特性を正確かつ高速に自動解析するために設計された強力なモデルです。精密ウェーハテストと計測機能をお探しのメーカーに最適です。モジュール設計とオプション機能により、さまざまな種類のウェーハアプリケーションの重要なウェーハ機能を迅速かつ正確に測定できます。