中古 CANDELA OSA 5100 #9206447 を販売中

CANDELA OSA 5100は、商用または研究用途における半導体ウェーハの精密な解析と特性評価を可能にするように設計された高性能ウェーハ試験および計測装置です。このシステムは、顕微鏡特性の高解像度画像を作成し、材料の微妙な変化を検出し、さらに基板表面から原子レベルの詳細をキャプチャすることができる、高度な光学顕微鏡およびAFM（原子力顕微鏡）顕微鏡の範囲を備えています。高解像度カメラユニットと光学エンコーダからなる強力なコントローラは、サンプルの位置、回転、速度を正確に制御し、精度と再現性を確保します。また、集積回路の設計・評価、表面トポグラフィ測定、表面電荷解析、光学試験、薄膜解析、X線分析など、多種多様な用途での自動測定・解析が可能です。OSA 5100はオープンアーキテクチャで設計されており、さまざまなサードパーティ製コンポーネントやソフトウェアパッケージと迅速かつ簡単に統合できます。このツールはまた、さまざまな顕微鏡プローブと互換性があり、イメージングおよび研究アプリケーションの柔軟性をさらに高めることができます。高解像度の光学顕微鏡、AFM顕微鏡、見やすい接眼レンズを備えています。アセットは、用途に応じて解像度や波長の範囲が異なり、サンプルの調査に幅広い可能性を提供します。CANDELA OSA 5100には、高度なTI （Time Integrated）イメージングソフトウェアパッケージが含まれており、イメージングタスクのリアルタイム分析と制御が可能です。このソフトウェアは、高解像度画像とAFMデータの両方を使用して、詳細なサーフェスマップとトポロジ特性を生成します。また、このソフトウェアは、ドリフトやヒステリシスの監視だけでなく、寸法測定や光学校正に使用することができます。さらに、OSA 5100はマルチユーザー環境を制御するための使いやすいインターフェイスを提供します。このモデルは非常に効率的で、ユーザーの指先にプロのウェーハテストと計測機器を配置します。強力なイメージング機能、洗練されたソフトウェア、およびユーザーフレンドリーなインターフェイスの組み合わせは、CANDELA OSA 5100を市場で同様の製品とは別に設定します。商用でも研究用でも、半導体ウェーハの精密特性評価に最適なOSA 5100です。