中古品 BRUKER / SLOAN DEKTAK (ウェハ検査・計測) を販売中

BRUKER/SLOAN DEKTAKが提供するウェーハ試験および計測機器は、半導体業界で高い評価を受けています。これらのシステムは、ウェーハの表面粗さと膜厚に関する包括的な分析および測定ソリューションを提供します。BRUKER/SLOAN DEKTAKユニットの大きな利点は、その高精度と精度です。これらのマシンは、ウェーハ表面の正確な測定をキャプチャするために、スタイラスプロフィロメトリーや白色光の干渉計などの高度な技術を利用しています。このレベルの精度により、プロセス管理と品質保証のための信頼性の高いデータが保証されます。BRUKER/SLOAN DEKTAKは、さまざまなニーズに対応するさまざまなモデルを提供しています。例えば、NT 3300は、サブナノメートル分解能で高さ、粗さ、膜厚を非接触測定できる汎用性の高いシステムです。一方、XTシリーズは、薄膜、ステップハイト、およびその他の重要な測定のための高度なプロフィロメトリーを提供します。IIAシステムは高速インラインウェーハ検査用に設計されており、生産環境のリアルタイム解析を提供します。これらのツールは、半導体製造、MEMS製造、材料研究など、さまざまな産業に応用されています。迅速かつ正確な測定を提供し、企業のプロセスの合理化、製品歩留まりの向上、ウェーハの完全性の確保を支援します。BRUKER/SLOAN DEKTAKのウェハテストおよび計測資産は、半導体業界における品質管理とプロセス最適化のための信頼できるツールです。