中古 BRUKER NANO DektakXT #293653435 を販売中

BRUKER NANO DektakXTは、半導体製造オペレーションにおける最適なパフォーマンスを実現するために設計された最先端のウェーハ試験および計測システムです。半導体プロセス制御、解析、プロセス開発、故障解析など、さまざまなアプリケーションに正確で信頼性の高い測定を提供できます。DektakXTは、高解像度光学測定用のオンボードCCDカメラとデジタル信号プロセッサ（DSP）を内蔵しています。これらのコンポーネントにより、BRUKER NANO DektakXTはウェーハ表面上の幅広い特徴を正確かつ再現可能に測定することができます。ライン、トレンチ、ビア、バンプ、その他の機能を0.1µm （0。000004"）の誤りのない精度で測定できます。測定結果は、セグメンテーション、範囲、イメージング、プロービングの4つのモードで測定されます。さらに、DektakXTの電動XYステージは、完全に自動化されたスキャンと再現可能な測定を可能にします。BRUKER NANO DektakXTは、業界で認められているSmartScoutソフトウェアパッケージと統合されています。このソフトウェアは、容易なパス設計を可能にし、プロセスパラメータを最適化して歩留まりとコスト効率を向上させます。また、包括的な統計データ分析を通じて、プロセスのパフォーマンスに関する深い洞察を提供します。全体として、DektakXTは非常に信頼性の高いウェーハテストおよび計測システムです。その低ノイズ動作と高分解能測定は、今日の要求の厳しい半導体産業のニーズに信頼性の高いソリューションを提供します。このシステムは、高精度、低コストの生産とテストに最適で、効率的です。オンボードCCDカメラとDSPにより、比類のない精度と精度を提供します。さらに、SmartScoutソフトウェアは、パフォーマンスを向上させるためのプロセスパラメータと詳細なデータ分析の最適化を可能にします。