中古 AXIC 100 II #62113 を販売中

AXIC 100 IIは、強力なオンウェーハ試験機能を提供するように設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高性能プロービングおよび計測技術により、電気的パラメータと物理的パラメータの両方を高精度で正確かつ信頼性の高い測定を提供し、ユーザーは可能な限り最高の結果を得ることができます。ウェハマッピング、欠陥測定、デバイス特性評価など、さまざまなウエハテストに適しており、信頼性と効率性の高い製品を開発できます。100 IIは、非常に高解像度の3Dプロファイルスキャナと完全に自動化されたローカルメトロロジーユニットを備えたTruSemモジュールを内蔵し、さまざまなパラメータの正確かつ迅速な測定を提供します。TruSemを使用すると、表面粗さ、エッチング深さ、ピッチ、リリーフなどの重要な物理特性を簡単に測定できます。このマシンはまた、ユーザーが複雑なプロファイルを作成し、より詳細な測定を実行することができます高度なソフトウェアツールの堅牢なスイートが含まれています。AXIC 100 IIには、超高感度静電容量測定と高速ケルビン試験機能を提供する統合パラメトリックプロービングプラットフォームも含まれています。これにより、材料やデバイスの物理的および電気的特性を正確に、迅速かつ簡単に測定することができます。このツールには、デバイスのオーバーレイ性能を最適化するための高度なダイツーダイオーバーレイ技術も搭載されています。最後に、ユーザーフレンドリーで直感的なソフトウェア環境により、ユーザーは簡単に資産を構成し、より速く正確な結果を達成することができます。さらに、100 IIのグラフィカルインターフェイスはよく採用されており、ユーザーのためにナビゲートすることが非常に簡単になります。AXIC 100 IIは、高度な技術と信頼性の高い性能を兼ね備えており、あらゆるウェハテストおよび計測ニーズに最適です。