中古 ATI WIND AWIS-1200 #293654341 を販売中

ATI WIND AWIS-1200は、最大300mmのサイズのウェーハから半導体の構造、パターン、欠陥を認識して測定するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。あらゆる種類の環境条件下で欠陥を検出し、部品のサイズ、形状、構造を測定するための信頼性が証明されています。AWIS- 1200は、12MegaピクセルCMOSセンサー、リアルタイムデジタル信号処理、高速画像取得、デジタル画像信号処理、3段階インテリジェント検査システムを備えています。12Mega Pixel CMOSセンサーは、高解像度の画像を可能にし、ウェーハ上の詳細なパターンを高速でキャプチャします。RealTime Digital Signal Processingは、光ノイズ、バンディング、およびその他の種類の収差を低減するのに役立ちます。高集積ラインとピクセルバッファを備えたシングルチップに各種信号処理機能が統合されているため可能です。Digital Image Signal Processingの利点には、オートゲインとオートシャッター制御、ピクセル応答の不均一補正、ガンマ補正などがあります。これらは、画質を向上させ、検査時間を大幅に短縮するのに役立ちます。このAWIS-1200は、サブミクロンパターンの幅と長さを高い精度と速度で測定することができます。これは、顕微鏡、干渉計、楕円計、分光計からなる3段階の検査ユニットによって達成されます。この顕微鏡は、一般的な表面の評価、高精度な特徴を測定するための干渉計、表面の地形や薄膜を測定するための楕円計、材料の光学解析用の分光計に使用されます。これにより、部品の正確な評価が可能になり、ピット、トレンチ、ステップ、およびその他の欠陥などのウェーハ上の欠陥の種類を識別することができます。AWIS-1200は直感的でユーザーフレンドリーなインターフェイスと、測定を制御および分析するための高度なソフトウェアを備えています。このソフトウェアは、付属の顕微鏡、干渉計、分光計、楕円計のために特別に設計されています。高度なユーザーと初心者の両方に適しており、最も複雑な構造の特性を迅速かつ正確に測定することができます。また、データ収集と処理を自動化し、測定の効率と精度を向上させることができます。全体的に、WIND AWIS-1200は優れたウェーハ試験および計測ツールであり、最大300mmのサイズのウェーハからの高精度分析と欠陥検出を提供します。その高度な機能と柔軟性により、幅広いアプリケーションに最適です。