中古 ASML YieldStar S100B #293641963 を販売中

ASML YieldStar S100B
ID: 293641963
Overlay measurement system.
ASML YieldStar S100Bは、電気的、物理的、化学的特性を測定するために設計されたウェハテストおよび計測機器です。製造プロセスの問題を特定して解決し、リアルタイムでシリコンウェーハを分析および最適化し、ウェーハを再製造する必要なく設計変更を可能にするために使用されます。このシステムは、非接触光学およびレーザーセンサー、3次元スキャン、高精度計測システムなどの高度なハードウェアおよびソフトウェア機能を備えています。YieldStar S100Bは、ウェーハ表面の高解像度画像を撮影し、抵抗や静電容量などの電気パラメータ、厚さや応力などの機械的特性を測定することができます。ASML YieldStar S100Bには、生産プロセスにおけるエラーの原因を特定するためのフォルト解析と欠陥分類も統合されています。これにより、効果的なサプライヤーの品質管理と、ウェーハの歩留まり向上につながるプロセスの改善が可能になります。このユニットにはさまざまなユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスがあり、広い領域のスキャンと分析を迅速かつ簡単に行うことができます。ローカルコンフィギュレーションまたはリモートコンフィギュレーションで使用でき、ポータビリティにより測定ラボとクリーンルーム環境の間で簡単に移動できます。YieldStar S100Bは、ボリューム検査とプロセス最適化の厳しい要求に応えるために設計されているため、ラボ、生産ライン、半導体デバイス製造に最適です。業界をリードする精度とスピードで、このマシンはテスト部門と計測部門にとって費用対効果が高く信頼性の高い選択肢です。
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