中古 APPLIED PRECISION / RUDOLPH WaferWorx #9145249 を販売中

APPLIED PRECISION / RUDOLPH WaferWorx
ID: 9145249
ウェーハサイズ: 8"
Probe analysis microscope station, 8".
APPLIED PRECISION/RUDOLPH WaferWorxは、品質管理と生産最適化のためにウェーハ仕様を測定および検査するために使用されるウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、精密光学、ステアリング、光源などのコンポーネントを組み合わせて、ウェーハ検査やウェーハ属性の詳細な計測分析に優れたイメージングを提供します。RUDOLPH WaferWorxユニットは、リアルタイム縦方向の表面トポグラフィーマッピング、ピッチプロファイル測定、高倍率ウェーハ表面画像など、幅広い検査機能を提供します。この機械を使用すると、プロセスエンジニアは粒状粒子試験、スペクトルマップ、薄膜測定などの詳細な計測データにアクセスできます。これは、プロセスの変動を評価し、生産プロセスを最適化するために不可欠です。どのようなウエハタイプがテストされている場合でも、APPLIED PRECISION WaferWorxは信頼性が高く正確な結果を提供します。ツールオプションとマトリックス処理アルゴリズムにより、ウェハ特性の正確な測定と包括的なデータ分析が可能です。WaferWorxの自動データ解析は、重要な欠陥に基づいてウェーハを優先するデータを提供し、すべてのウェーハが許容範囲内で測定できるようにします。この強力な資産はデータも記録しており、製造業者はプロセス診断のために分析することができます。APPLIED PRECISION/RUDOLPH WaferWorxモデルのユーザーフレンドリーなインターフェースにより、新規および経験豊富なユーザーの両方が簡単に使用でき、オペレーターの能力に関係なく一貫した繰り返し可能な結果を提供します。これにより、データの正確性を確保し、技術者の疲労を最小限に抑えます。装置の自動化されたマトリックスプログラミングは、効率的な生産出力のために、ウェーハと複数のサンプル操作の簡単なセットアップを提供します。また、統合されたハイスループット光学システムは、迅速で自動化されたウェーハ検査を提供します。このソフトウェアは、繰り返し可能なタスク構成のテンプレートや自動統計調査などのリソースも提供しており、効率的なウェーハ分析が可能です。RUDOLPH WaferWorxユニットは、半導体メーカーに高度なウエハテスト技術をもたらし、最高品質の基準を達成することを可能にする信頼できるツールです。そのシステムは比類のない精度、精度、速度、および信頼性を提供し、ユーザーフレンドリーなインターフェイスは操作を容易にします。この機械を使用することで、半導体製造業者は、生産が標準を満たしていることを確認し、その方法を最適化することができます。
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