中古 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM #9200200 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEMは、ウェハテストと計測に使用される最先端のシステムです。高解像度走査型電子顕微鏡（SEM）と、幅広い自動測定および画像処理機能を組み合わせています。これにより、重要な寸法、デバイスのトポグラフィー、幅広い電気デバイス特性などのウェーハおよびダイ特性を迅速かつ正確に測定できます。AMAT VeraSEMを使用すると、ユーザーはドーピングプロファイルを迅速に特性評価し、さまざまなサンプル間でデバイスのパフォーマンスのベンチマークを実行することができます。APPLIED MATERIALS VeraSEMは、堅牢な設計と高度な機能により、半導体デバイスの開発およびプロセス特性評価に最適です。マイクロエレクトロニクス部品の詳細な特性評価を提供し、ナノスケール分解能と精度で電気特性の測定を可能にします。これにより、デバイスの故障解析や歩留まり監視において、半導体業界で貴重なツールとなります。VeraSEMの高度なイメージング機能は、高解像度SEMおよび電子ビーム誘導電流（EBIC）イメージングを備え、ダイダイ比較を可能にします。これは、デバイスと個々のトランジスタの欠陥を特定して分析するのに役立ちます。VerSEMはまた、分光イメージング機能を提供し、ユーザーはナノメートルスケールまで化学分析を行うことができます。さらに、その自動測定機能は業界でも類を見ないものです。AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEMは、10ナノメートルの解像度で最小の機能を測定することができ、ウェーハプロービングソリューションとして最高のものの1つです。また、パターン認識の自動化や欠陥分類などの高度なソフトウェアツールも提供しており、多くのエンジニアや研究者のワークフローを改善しています。全体的に、AMAT VeraSEMは、詳細かつ正確な結果を提供する非常に汎用性の高い洗練されたウェーハテストおよび計測システムです。その強力なイメージングと自動測定機能により、半導体デバイスの開発とプロセス特性評価にとって非常に貴重なツールとなります。故障解析、ベンチマーク、重要寸法の測定、電気特性など、幅広い用途に適しています。