中古 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293702601 を販売中
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AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3Dは、最高品質の半導体ウェーハおよびその他のマイクロエレクトロニクス材料の精密測定および分析用に設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、検査、特性評価、および計測操作のための最高レベルの精度、スループット、および信頼性を提供します。AMAT VeraSEM 3Dユニットは、共焦点顕微鏡、3Dトモグラフィー、原子力顕微鏡（AFM）などのイメージング技術を活用した3D光学顕微鏡設計に基づいて構築されています。これにより、オペレータはオンサイトで超精密な測定とデータ分析を実行するための強力なプラットフォームを提供します。最高レベルの精度と精度を確保するために、アプライドマテリアルズVeraSEM 3Dは3軸モーションコントロールマシンを備えており、各顕微鏡の軸は実験室のX、 Y、 Z軸に沿って正確に整列しています。これにより、ウェーハ上の重要な特徴を最大限の精度で測定することができます。VeraSEM 3Dは、高速干渉計ベースの共焦点スキャンツールを使用して、試験片の高品質の光学画像を取得します。自動化されたレンズタレットと交換可能な対物レンズは、オペレータに各アプリケーションに最適な光学系を選択する機能を提供します。さらに精度を高めるために、このアセットには、2次元ウェーハ表面積スキャナ、2次元オーバーレイ計測モデル、3次元自動欠陥検査装置、および3次元ダイ・ダイ・オーバーレイ計測セットアップなど、さまざまな自動検査および計測ツールを装備することができます。AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3Dは、さまざまな検査および計測ツールに加えて、欠陥検出、粒子分析、膜厚測定などの複数の解析方法を提供します。このシステムには、欠陥を正確に検出および分類するための自動精密パターン認識ユニットを装備することもできます。オペレータは、自動化された3D欠陥分類ソフトウェアを活用して、ウェーハ上の不整合を正確に分類および分類することもできます。強化されたデータストレージのために、AMAT VeraSEM 3Dには、安全で包括的なデータストレージスイートが含まれており、ユーザーはデータを迅速かつ効率的に保存、取得、および管理できます。データは複雑な暗号化アルゴリズムによって安全に保管されるため、APPLIED MATERIALS VeraSEM 3Dは、内部に保存されるデータの完全性とセキュリティを保証します。さらに、このマシンはアップグレード可能であり、ユーザーは常に変化するアプリケーションのニーズに追いつくことができます。全体として、VeraSEM 3Dは、高度なウェーハテスト、計測、データ分析のための効果的で信頼性の高いツールです。自動化と精密ツールにより、オペレータはこれまでにないレベルの精度とスループットを達成することができ、半導体の研究と生産に最適です。
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