中古 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668731 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3Dウェーハ試験および計測装置は、ウェーハ試験および計測のための高度なツールです。半導体ウェハ、ソリッドステートメモリチップ、その他の半導体デバイスの3次元の特徴を正確に測定し、特徴付けるために、研究室、半導体メーカー、プロセスエンジニアが使用しています。AMAT VeraSEM 3Dシステムは、MetaSEM G4高分解能SEM （Scanning Electron Microscope）クライオ冷却試験片ビュー、MetaSEMマグネトロンスパッタリングステーション、高分解能光学顕微鏡など、多くのコンポーネントで構成されています。SEMは、電子ビーム技術を利用して、検査中のウェーハまたはデバイスの正確な特徴を特定します。MetaSEM G4高解像度SEMクライオ冷却試験片チャンバは、サンプル温度と動作条件を正確に制御します。マグネトロンスパッタリングステーションは、イメージング前に薄膜をウェーハに堆積させるために使用されます。高解像度の光学顕微鏡を使用すると、サンプルの地形や表面粗さを正確に検査および測定できます。これらのコンポーネントに加えて、APPLIED MATERIALS VeraSEM 3Dには、Stereology Analysis Unit、 Automated Sample Preparation Machine、 Pattern Recognition Softwareなどの高度なソフトウェアとハードウェアプリケーションも含まれています。ステレオロジー解析ツールは、ウェーハ上のフィーチャーのサイズ、形状、向きなど、ウェーハの特徴を自動的に識別するために使用されます。自動サンプル準備アセットを使用すると、サンプルを迅速かつ正確にイメージングすることができます。パターン認識ソフトウェアは、ウェーハ上のダイオードやトランジスタのパターン化などのパターンを識別するために使用されます。VeraSEM 3Dウェーハ試験および計測モデルは、研究室、半導体メーカー、およびプロセスエンジニアにとって貴重なリソースです。ウェーハやその他の半導体デバイスの高速、正確、信頼性の高い測定と特性評価を提供します。高度なコンポーネントとソフトウェアのおかげで、AMAT/APPLIED MATERIALTS VeraSEM 3Dはウェーハの正確な特徴を特定し、迅速にイメージングのためのサンプルを準備することができます。この装置は、半導体デバイスの製造と検査に不可欠なツールです。