中古 AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle SEM #9249417 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALTS Reticle SEMは、半導体製造および研究用に特別に設計されたウェーハ試験および計測機器です。AMAT Reticle SEMは、ウェーハ表面の詳細と条件の重要なレベルを正確に測定および分析できる走査型電子顕微鏡です。このSEMは、極めて高い精度と精度で物理的特徴と欠陥を検出し、測定することができます。SEMは、サーフェスの静的および動的解析を可能にし、周囲環境やその他の変数に関連する変化を測定および分析することができます。アプライドマテリアルズ（APPLIED MATERIALTS） レチクルSEMは、幅広いウエハ表面欠陥検査、特性評価、解析を可能にします。表面形態、重要寸法、電気特性、化学組成などに関するデータを取得、記録、処理できます。このSEMは、ウェーハおよびその他の半導体計測用途に特化して設計されています。このシステムには、強力で最適化された電子光学ユニットが含まれており、高解像度機能を備えた優れた高コントラストイメージングを提供します。また、統合された自動XYZステージポジショニングマシンを搭載しており、短期間でウェハデータの自動取得と分析が可能です。SEMはオープンアーキテクチャを採用しており、複数のテクノロジーやプロセス要件に対応するためのツールのカスタマイズに柔軟性を提供します。この柔軟でモジュラー設計は、ユーザーが独自のテスト設定とデータ取得計画を構成するための理想的な環境を提供します。Reticle SEMはエンドユーザーのニーズにも適応可能であり、より大きな測定、改善されたイメージング、および高精度のために簡単にカスタマイズできる高度な機器と分析機能を備えています。さらに、AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEMは自動化のために設計されており、ユーザーは、無人テストを実行するためにトリガーすることができる所定の分析計画を作成することができます。AMAT Reticle SEMは、半導体ウェーハおよびレチクル計測用の強力で汎用性の高いツールです。優れた高解像度イメージングと高精度測定を実現し、幅広い用途で優れたスループットと再現性を提供します。この洗練されたマシンにより、オペレータは簡単にデータをキャプチャ、記録、および処理することができます。その柔軟なアーキテクチャと統合されたXYZ位置決めアセットは、オペレータに多くのアプリケーションに理想的なカスタマイズと自動化のレベルを提供します。