中古 AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #9269031 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3Dは、半導体研究開発のための最先端のウェーハ試験および計測機器です。これは、半導体ウェーハ上の構造の前例のない3Dビューを提供します。このシステムにより、設計者や科学者は、電気故障モードを理解し、設計を最適化するために、チップ構造を迅速かつ正確に分析することができます。AMAT Reticle NanoSEM 3Dは、高性能の電子銃、デジタル信号処理エレクトロニクス、モーションコントローラ、およびその他のコンポーネントを備えた大型チャンバーを備えており、重要な機能のイメージングと分析を最大化します。チャンバーは真空密封されており、ウェハモノクロスキャンとフルフィールドイメージングを可能にします。NanoSIMSイメージングユニットを内蔵し、NanoBioCMを内蔵して構造物の化学パラメータを測定します。このツールには、一度に最大28のレチクルを検査できるレチクルスキャナも含まれています。正確で信頼性の高いイメージングを保証するために、アセットには特許出願中の3Dステッチアルゴリズムが含まれており、高精度の3D画像を生成します。2つの電子ビームカラムを使用して構造の細部をキャプチャし、高度なイメージングソフトウェアは高速解析と画像補正を備えています。これにより、画像が正確であり、データを安心して使用できるようになります。アプライドマテリアルズNanoSEM 3Dは、電気故障解析およびウェーハ計測に最適なツールです。これは、パターン認識、デバイス特性評価、プロセス監視に使用できるサブナノメートル精度を備えた高品質の3D画像を研究者に提供します。このモデルは使いやすく、既存のウェーハの研究開発プロセスに組み込むことができます。これは、ユーザーが任意の場所からそのパフォーマンスを監視することができます遠隔監視施設が装備されています。この機能は、機器が常にピーク性能で機能し、必要なときに利用可能であることを保証します。Reticle NanoSEM 3Dは、半導体の研究開発のための究極のウェーハ試験および計測システムです。高度な機能、堅牢なパフォーマンス、費用対効果を備えたスイートは、最高の品質と信頼性を要求する研究者やデザイナーにとって理想的な選択肢です。