中古 AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9357538 を販売中

AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D
ID: 9357538
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3Dは、高度なプロセス技術開発のニーズを満たすために特別に設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。3次元イメージングと解析を使用することで、ナノスケール上の特徴を測定および特性評価することができます。AMAT NANOSEM 3Dには、高解像度X線検出器を搭載した高度なマルチチャネルSEM(走査型電子顕微鏡)が搭載されており、ナノスケールまでの解像度で3次元画像を生成できます。さらに、システムには可変角度Zステージが含まれており、さまざまなイメージング角度と深さを提供するために調整することができます。APPLIED MATERIALS NANOSEM 3Dは、先進的なSEMを搭載するだけでなく、他にもいくつかの機能を備えています。1つは、3nm以上の分解能でサンプルの地形を解析できる光学顕微鏡を搭載しています。この顕微鏡はまた、サンプルの向き角度と傾き角度を測定することができます。また、ウエハテストや計測データの正確な測定と評価も可能です。2Dデータと3Dデータの両方を測定できるため、結果のエラーを最小限に抑えることができます。さらに、NANOSEM 3Dは、半導体、金属、絶縁体など、さまざまな材料を処理する機能を備えています。AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3Dは、ウエハテストと計測において比類のない精度と精度を提供することができる高度な機械です。ナノスケールレベルまでの特徴を測定し特徴付ける能力は、業界でも類を見ないものです。その結果、このツールはプロセス技術開発のための強力なツールとなり、エラーの削減と歩留まりの改善に役立っています。
まだレビューはありません