中古 AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9138847 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3Dは、半導体産業で使用するために設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、3Dイメージングの利点と、サンプル処理のための専用の自動機能を組み合わせ、ウェーハやその他の基板上で重要な深度測定を作成します。AMAT NANOSEM 3Dユニットは、0。01 μ mまでの解像度で、0。1 μ mから数mmまでの深さを測定することができます。また、表面の輪郭や粗さを測定することもできます。この機械は、3Dイメージングデバイスとハンドリングツールの2つの主要コンポーネントで構成されています。3Dイメージングデバイスは、DIS （Digital Imaging Standard）技術に基づいており、高い空間分解能と精度を提供しながら、大きな画像領域を記録することができます。このアセットには独自の3Dイメージングアルゴリズムが装備されており、形状、サイズ、表面形態が異なるオブジェクトの大規模な3Dイメージングを可能にします。さらに、その特許取得済みのオブジェクト認識技術と様々なヘッドオプションにより、モデルは開いた空洞と可変平面を測定することができます。ハンドリング装置は、サンプルの自動積み込みと位置決め、およびイメージングヘッドの手動および自動移動の広い範囲を可能にします。自動化されたサンプルローディングプロセスにより、ウェーハやその他の基板の迅速かつ正確なローディングと位置決めが可能になります。また、異なるウエハを迅速に分析する必要がある状況での自動比較イメージングもサポートします。さらに、システムはオペレータに完全な制御を与え、イメージング結果を改善するためにゲインとフォーカスの設定を対話的に調整することができます。APPLIED MATERIALS NANOSEM 3Dユニットの測定ソフトウェアは操作が簡単で、直感的なワークフロー制御とデータ分析が可能です。サンプルの強力な3D表現を作成することができ、地形の特徴の迅速な識別とレビューを可能にします。さらに、収集されたデータの解析により、表面のテクスチャや半径、傾き、幅などの重要な寸法に関する情報を提供することができます。要約すると、NANOSEM 3Dマシンは、高度なイメージング技術を活用して、高解像度と精度で深さと表面プロファイルを測定する高度なウェーハ試験および計測ツールです。自動化されたサンプル処理アセットと直感的なソフトウェアを備えており、ワークフロー制御とデータ分析が容易です。このモデルは半導体産業に最適で、ウェーハやその他の基板の高速かつ正確なイメージングを可能にします。