中古 AMAT / APPLIED MATERIALS DFinder2 #9316328 を販売中

AMAT/APPLIED MATERIALS DFinder2 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、チップメーカーとデバイスエンジニアがプロセス層をテストおよび検査できるように設計された包括的な計測ソリューションです。自動化されたテストおよび校正ルーチン、独自の画像セグメンテーションアルゴリズム、高速画像解析、強力な波形解析ツールなど、テスト精度の向上と計測機能の拡張に役立つ幅広い機能を提供します。システムの中核には、強力でユーザーフレンドリーなAMAT DFinder2ソフトウェアパッケージがあります。基本的なオートフォーカスとイメージングモジュール、強力な波形解析モジュール、計測解析モジュール、プロセス層画像を表示および分析するための診断モジュール、さまざまな特性評価技術をサポートするオプションの4D（立体）イメージングモジュールなど、いくつかのモジュールで構成されています。アプライドマテリアルズD-FINDER2の完全自動化されたテストおよびキャリブレーションルーチンにより、手動セットアップ時間が短縮され、より一貫した結果が得られます。また、ブライトフィールドとダークフィールドの両方のサンプル画像の画像セグメンテーションアルゴリズムを備えており、リアルタイムのパターン認識と特徴情報の検索を可能にし、測定結果の精度と再現性をさらに向上させます。このマシンの高速画像解析機能は、標準イメージングよりも最大100x高速で完全な試験領域をスキャンします。これにより、サンプルの重要なセグメントを迅速にキャプチャして分析し、トレースやその他の機能をより迅速かつ高精度に識別できます。波形解析ツールは、チップの波形を評価するための300以上の調整可能なパラメータと機能を提供し、プロセス層の異常や不規則性を迅速かつ正確に識別するのに役立ちます。さらに、D-FINDER2は、試験結果の高度なデータ分析をサポートし、波形パラメータとモデル予測の迅速な可視化を提供します。これにより、エンジニアはプロセス層のパフォーマンスをよりよく理解し、改善のための領域を迅速に特定できます。全体として、AMAT D-FINDER2はテストおよび計測ニーズに最適なソリューションであり、包括的でありながら使いやすいテストおよび分析ツールを提供し、エンジニアの作業を支援する包括的なデータ分析を提供します。