中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9375783 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipmentは、半導体ウェーハ製造に使用される高度で高性能な試験および計測機器です。シリコンウェーハの物理的、電気的、電気的特性を精度、精度、速度で測定するように設計されています。このシステムは、ドーピングプロファイリング、電気特性評価、欠陥およびパラメトリック試験、表面粗さ解析、酸化試験、フォトレジスト試験、水分試験、欠陥検査などの測定機能を幅広く提供しています。このユニットには、高速スキャン、広域イメージング、およびウェーハトポグラフィおよび表面フィーチャーの直接イメージング用の計測ユニットが含まれています。Metrology Toolsetは、酸化物厚さ、ドーパント沈殿、および表面地形の詳細な寸法測定を提供します。Electrical Test Toolsetは、半導体ウェーハに迅速かつ正確な電気性能と電気パラメトリック試験機能を提供します。このマシンには、個々のチップ性能を測定するためのMicroelectronics Parametric Testing Toolsetも含まれています。HP 4280A Wafer Testing and Metrology Toolは、半導体ウェーハの試験および特性評価において最高の精度と精度を提供するように設計されています。高度なソフトウェア機能とユーザーインターフェイスを備えており、複雑な電気的および物理的特性の識別、測定、シミュレーションを容易にします。また、環境チャンバーを一体化しており、ウェハ特性の温度試験が可能です。このチャンバーは、R&Dラボや生産環境での試験条件のシミュレーションにも使用できます。また、ウェーハの欠陥や欠陥を測定するための最先端のビデオ顕微鏡も搭載しています。これにより、ウェーハに物理的に触れることなく正確な欠陥深度測定が可能になり、ウェーハの汚染や損傷のリスクを最小限に抑えます。AGILENT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipmentは、高精度で詳細なウェーハ計測とテストデータを必要とする人にとって、汎用性と使いやすい多目的デバイスです。ユーザーフレンドリーな環境、高速スループット、および包括的な計測および電気パラメトリック特性評価を提供します。幅広い機能とオプションを備え、あらゆる半導体製造設備に最適です。