中古 AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite #293662145 を販売中

AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 liteは、高速故障検出およびリアルタイム表面計測用に設計されたウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、比類のない精度、精度、速度を提供し、ユーザーは自信を持ってウェーハの欠陥を迅速に検出し、診断することができます。Nanomap 8018 liteは、高精度のxenetech操作スキャンユニットを備えており、最大8µmの解像度でウェーハ表面の高解像度3Dマップを提供します。その大容量スループットと高速データ取得率により、ユーザーは数分で複数のウェーハを素早くスキャンして測定できます。このマシンは、ダークフィールド、ブライトフィールド、および逆散乱電子解析などのさまざまな試験方法を統合して、ウェーハの欠陥を包括的に分析します。このツールは、ウェーハの高解像度3Dマップに加えて、小さな傷、汚染、チップボンディングなどの欠陥を識別するための包括的なフォルト検出アルゴリズムも提供します。このアルゴリズムは、機械学習モデルを使用して、視覚的に検出することが困難なさまざまな種類の欠陥を特定します。これは、結果の精度を向上させるだけでなく、障害の性質を診断する時間を短縮するのに役立ちます。さらに、AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 liteは高度な欠陥検出アルゴリズムを備えており、一目では見えない可能性のある重大および重大でない欠陥を識別することができます。このアルゴリズムは、サイズ、位置、欠陥の材料など、検出された各欠陥に関する詳細を提供することができます。これにより、すべての潜在的欠陥が特定され、評価されてウェーハ全体のパフォーマンスへの影響を評価することができます。このアセットは、サンプル冷却、温度および圧力制御、または自動洗浄プロセスなどのクリーンルーム内の他の機器やプロセスと容易に統合できるように設計されています。これにより、ユーザーはウェーハの概要をすばやくキャプチャし、欠陥を検証し、わずか数分で問題を診断できるため、より迅速で効率的な製造プロセスが保証されます。Nanomap 8018 liteは、ウェーハテストと計測プロセスにおける速度、精度、精度を求めるお客様に最適なソリューションです。ウェーハ表面の高解像度3Dマップ、高度な欠陥検出アルゴリズム、他の機器やプロセスとの容易な統合により、欠陥の診断時間を短縮し、ウェーハの品質と性能を向上させます。