中古 ADVANCED ENGINEERING VWM-871 #170437 を販売中

ID: 170437
ウェーハサイズ: Up to 8"
Semi-automatic vacuum wafer mounter, up to 8" Heated 8" wafer chuck with digital display UV tape backing removal rollers LCD menu driven controller Automatic motorized tape cutting Differential vacuum pressure technique.
ADVANCED ENGINEERING VWM-871は、さまざまなアプリケーションで優れた精度と性能を提供するように設計された、高度に洗練されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、最大8インチの最大ウェーハサイズのダイレベルウェーハテストプラットフォームと、1時間あたり最大77個のウェーハを処理できる統合された光学計測ユニットを備えています。この機械は、優れた精度と高速性を念頭に置いて設計されており、短時間で極めて正確な結果を出すことができます。このツールは、試験ステーションと光学計測ユニットの2つの主要コンポーネントで構成されています。試験ステーションは、2つの独立した高分解能の光学顕微鏡、2つの高感度プローブヘッド、および画像ベースの試験資産で構成されています。このモデルは、レーザー光源を使用して表面平坦度、粗さ、発生角度などのさまざまなウェハ特性を測定するスキャン干渉計の光学計測ユニットに接続されています。このシステムはユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスを備えており、簡単なセットアップと操作が可能です。ユニットから収集されたデータは、さまざまなソフトウェアツールとパッケージを使用して処理および分析することができます。例えば、測定ユニットはウェーハ表面の3Dマップを提供することができ、ウェーハ表面の地形の高解像度画像を生成することもできます。このマシンは、高解像度のイメージングと測定機能、ならびにデータ分析のためのさまざまな技術と方法で、精度を最大限に高めるように設計されています。このツールは、非常に正確で非常に詳細な結果を提供することができ、最も困難な条件にも耐えるように構築されています。VWM-871はまた信頼でき、耐久であるように設計され、最低のサービスおよび維持と作動させることができます。全体として、ADVANCED ENGINEERING VWM-871は非常に高度で洗練されたウェーハテストと計測資産です。高解像度光学、統合された光学計測モデル、およびユーザーフレンドリーなグラフィカルインタフェースにより、装置は優れた精度と速度で優れた結果を出すことができます。システムは信頼でき、耐久および維持すること容易ユーザーが優秀な質の結果をすぐにそして効果的に作り出すことを可能にします。
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