中古 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9301386 を販売中

ID: 9301386
Wafer thickness gauge.
ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033Tは、高度な半導体デバイス製造向けに特別に設計されたウェーハ試験および計測機器で、信頼できる結果に基づいて迅速なエンジニアリング決定を行うことができます。このシステムは高いスループットと精度を備えており、スキャン速度は毎時6000以上です。Microsenseはフルオートメーションも提供しており、オペレータはルーチンのプロシージャとプロセス制御設定をプログラムすることができます。クロマチックコンフォーカルイメージングセンサーを採用しており、他の同等システムよりも高い焦点精度と高解像度を実現しています。また、トップサイドカメラ技術を使用して、サンプルウェーハの表面欠陥を検出します。ADE Microsense 6033Tは、粒子、転位、亀裂、汚染物質、エッチングピット、加速寿命試験欠陥など、さまざまな種類の欠陥を検出することができます。また、静電容量センサによるウェーハ厚の測定にも対応しています。このセンサは、0。5mm〜25mmの範囲でウェーハの厚さを正確に検出し、ウェーハの仕様に確実に準拠することができます。最後に、KLA Microsense 6033Tは直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、簡単なツールナビゲーションと処理制御を可能にします。メインメニューから、ユーザーはデータをすばやく表示し、レポートを生成し、結果を分析することができます。さらに、ユーザー定義のプロセス制御設定とレポート生成が可能で、高速なデータ処理と分析が可能です。全体として、TENCOR Microsense 6033Tは、デバイス製造プロセスを合理化するように設計された高度なウェハテストおよび計測資産です。さまざまな欠陥に関する正確で詳細なデータを提供し、ユーザーがウェーハの品質を維持できるようにします。自動化された設定とグラフィカルユーザーインターフェイスにより、ウェーハテストと計測に便利で信頼性の高いソリューションとなります。
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