中古 ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9272589 を販売中

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T装置は、究極のパフォーマンスを実現するために設計された最先端のウェーハ試験および計測システムです。このユニットは、ADE Acuity検出器とKLA WaferMapperソフトウェアプラットフォームの統合ソリューションを組み合わせることで、ウェハテストと包括的な計測結果の高速化と俊敏性を実現します。ADE Microsense 6033Tには、最先端のX線検出器が搭載されており、極めて短時間で最大4Kの解像度で画像をキャプチャできます。このマシンは、可変露光時間とダイナミックレンジ設定を備えており、迅速かつ正確な画像処理と正確な画像操作を可能にします。KLA Microsense 6033TのX線検出器は、高背地放射の存在下でも最大5000：1のダイナミックレンジを実現し、最も困難なテスト環境でも正確な詳細をキャプチャできます。このツールには、TENCOR WaferMapperソフトウェアが搭載されており、表面フィーチャー、パーティクルカウント、ボイドフラクション、およびその他のウェハーパラメータの自動検出と測定が可能です。このソフトウェアは、迅速かつ信頼性の高い分析のための高度な分析ツールのスイートが装備されており、ユーザーは、テストや計測中に潜在的な欠陥やその他の問題を迅速に特定することができます。内蔵のADE/KLA/TENCOR Acuity DetectorADE WaferMapperアセットは、ウェハマッピングとダイテストを迅速かつ正確に実行できます。このモデルは、ウェーハ全体を包括的にカバーしながら、個々のダイの非常に詳細な分析を提供することができます。クイックスペクトルマッピング、X線マッピング、トポロジーマッピング、表面粗さおよびフィーチャー検出など、幅広いウエハテストに使用できます。TENCOR Microsense 6033T装置は、今日のウェーハテストおよび計測アプリケーションの厳しい要件を満たすように設計されています。堅牢なイメージング機能と包括的な分析ツールにより、迅速で信頼性の高いウェーハテストと計測に最適なソリューションです。