中古 ADE / KLA / TENCOR 9500 #9293248 を販売中

ADE/KLA/TENCOR 9500は、ADEによって開発された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、ウェーハ試験、光学・電気検査、デバイス試験測定など、半導体業界の幅広い用途において高性能を提供します。ADE 9500は強力な画像解析ユニットで設計されており、半導体ウェーハ内の物理パラメータを迅速かつ正確に測定できます。最先端の技術を取り入れた高度なデジタルイメージ相関装置を搭載し、表面やパターンの特徴を正確に測定します。さらに、このツールにはサンプルアライメントが自動化されており、迅速なウエハ断面解析が可能です。さらに、KLA 9500は、CD、複雑なオーバーレイ、各種高速データの取り扱いのための高解像度測定を提供し、デバイスや材料の最奥部の特徴、線幅、臨界寸法、ピッチ精度、オーバーレイ精度などの重要なパラメータを分析することができます。生産性の面では、9500は複数のサイトとウェーハに同時に高いスループットを提供します。これにより、ユーザーは通常同様のタスクに必要な時間のほんの一部でプロジェクトを簡単に完了できます。さらに、このアセットは、大規模な試験および計測作業のための手動技術と比較して優れたスループットを提供し、複雑なタスクにかかる時間を効率的に削減します。さらに、高度な自動化とウェーハトラッキング機能により、ユーザーはテストおよび計測プロセスのさまざまな段階を効率的に管理できます。TENCOR 9500は多目的モデルで、半導体の研究および製造における幅広い試験および測定に適しています。最先端のCCDカメラと光源を搭載しており、アクセス困難な場所からでも正確に機能を測定することができます。さらに、デバイスやマテリアルの最も複雑なパターンや特徴さえも分析できる高度なアルゴリズムが組み込まれています。全体として、ADE/KLA/TENCOR 9500は、半導体業界の幅広い用途で高性能を提供する先進的なウェーハ試験および計測機器です。大規模試験や計測作業のための高いスループットと、デバイスや材料のさまざまな機能をテストするための優れた精度と分解能を提供します。さらに、高度な自動化およびウェーハトラッキング機能により、複雑な半導体構造の効率的かつ正確なインライン試験および測定に理想的なツールとなります。