中古 ULVAC TOF-SIMS TFS-210 #9078417 を販売中

ULVAC TOF-SIMS TFS-210は、先進的な研究開発アプリケーション向けに設計されたTriboField® Secondary Ion Mass Spectrometer （SIMS）です。今回のTime of Flight （TOF-SIMS）ベースの装置は、高分解能で質量精度に優れているため、半導体や有機材料の表面特性評価に最適です。TOF-SIMS TFS-210システムは、最大約50amuの低質量範囲での感度で、少数のamuから1500amu以上の広い質量範囲を分析することができます。高精度な光学設計により、同位体のピーク分離に優れた質量分解能を提供します。ULVAC TOF-SIMS TFS-210にはトライボカバーを使用したソースがあり、小分子イオンの効率的な質量分析が可能です。さらに、有機化合物を用いた試料の分析や、小分子の正のイオン化のためのエレクトロスプレーイオン源も備えています。TOF-SIMS TFS-210はまた、第一次イオンを選択するための2段階のドリフトチューブシステムを備えているため、関心のある二次イオンを不要なイオンから分離することができます。TOF-SIMSには5種類のデータ取得方法が用意されており、用途に応じた用途に対応できます。これらのプログラムには、伝送法、3段階脱離法、可変エネルギー質量選択法、微量種を検出するための反動イオン法、イオンイメージングおよびスパッタ深さプロファイリングを行うことができる浸食イメージング法が含まれます。ULVAC TOF-SIMS TFS-210には、簡単なサンプル準備とデータ処理のためのいくつかのソフトウェアオプションもあります。チュートリアルとトレーニングは、データと分析機能への詳細なアクセスを必要とする人のために利用できます。全体的に、TOF-SIMS TFS-210は、高解像度と優れた質量精度を組み合わせた、深度の表面特性評価に最適なツールです。ULVAC TOF-SIMS TFS-210は、サンプル調製技術と使いやすいソフトウェアの柔軟性により、幅広い分野の研究者に最適です。