中古 ULVAC / PHYSICAL ELECTRONICS / PERKIN ELMER PHI 700 TM #293828882 を販売中

ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PERKIN ELMER PHI 700 TMは、材料科学、薄膜分析、表面化学研究における高性能な分析アプリケーション用に設計された先進的な表面分析分光計です。アルバック、パーキン・エルマー、フィジカル・エレクトロニクスの3つの表面分析分野のリーディングカンパニーのノウハウを融合させた最先端の装置で、表面や薄膜の組成、構造、特性を原子レベルや分子レベルで評価するための最先端の分析機能を提供します。ULVAC PHI 700 TM分光計の中心には、X線光電子分光法（XPS）、オーガー電子分光法（AES）、および二次イオン質量分析（TOF）などの高度な表面解析技術があります。これらの技術は、元素および化学分析、深度プロファイリング、および高い感度と空間分解能を持つ表面イメージングのための強力なツールを提供します。XPS、 AES、 TOF-SIMSを1つの機器に組み合わせることで、金属や半導体からポリマー、バイオマテリアルまで、幅広い材料の表面組成、化学結合、電子構造に関する包括的な情報を得ることができます。PERKIN ELMER PHI 700 TM分光計の主な特徴の1つは、サンプル分析の汎用性と柔軟性です。このシステムには、さまざまな研究プロジェクトの特定の要件を満たすようにカスタマイズできる複数の励起源、検出器、および分析オプションが装備されています。例えば、XPSモジュールは単色X線源を用いて正確な元素量化と化学状態解析を行い、AESモジュールは表面感度と空間分解能のために高エネルギー電子ビームを採用しています。一方、TOF-SIMSモジュールは、パルスプライマリイオンビームを使用して、高い質量分解能と感度を持つ二次イオンの質量スペクトルを生成します。PHYSICAL ELECTRONICS PHI 700 TM分光計は、高度な表面解析機能に加えて、データ収集と分析を強化するさまざまな革新的な機能を提供します。この装置には、XPS、 AES、およびTOF-SIMSスペクトルのリアルタイムのデータ可視化、ピークフィッティング、および定量分析を可能にする高度なデータ処理ソフトウェアが装備されています。研究者はまた、ナノメートルスケールの解像度で深さの機能として表面組成と層構造の研究を可能にする装置の深さプロファイリング機能を利用することができます。さらに、PHI 700 TM分光計は、操作とデータ解釈の容易さのためのユーザーフレンドリーなインターフェースと直感的なコントロールで設計されています。この機器は、高スループットのサンプルハンドリングシステム、自動データ収集ルーチン、および効率的なワークフローと生産性のためのリモート監視機能を備えています。研究者は、ネットワーク統合やデータ共有などの機器の接続オプションを利用して、シームレスなコラボレーションとデータ管理を行うこともできます。要約すると、ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PERKIN ELMER PHI 700 TM分光計は、研究および産業における表面解析および材料特性評価のための強力で汎用性の高いツールです。高度な分析技術、カスタマイズ可能な構成、およびユーザーフレンドリーなインターフェースにより、この機器は、原子レベルおよび分子レベルでの表面および薄膜の特性と挙動を調べるための比類のない機能を提供します。ULVAC PHI 700 TM分光計は、半導体デバイスの組成、触媒の化学の検討、コーティングや薄膜の性能の最適化など、最先端の表面解析アプリケーション向けの包括的なソリューションを提供します。