中古 TAEIL AUTOMATIC CONTROL SX-100 #9395921 を販売中

TAEIL AUTOMATIC CONTROL SX-100分光計は、多目的アプリケーションのために実験室環境で使用される広範囲の分光装置です。材料特性評価や分光学研究などの研究・教育目的で設計された機器です。SX-100は、光の吸収、反射、散乱を測定するために使用することができ、高解像度CCDカメラ、コンピュータ制御波長選択、データ解析のための様々な数学的アルゴリズムなどの様々な機能を備えています。TAEIL AUTOMATIC CONTROL SX-100は、0°C〜50°Cで動作する実験室環境で効率的に動作するように設計されており、AC電源によって給電されます。これは、サンプル測定に簡単にアクセスするための光学テーブルで構築されています。このシステムには、サンプルを点灯させるために使用されるチューナブルレーザーまたはレーザダイオードが含まれています。サンプルからインシデントエネルギーを収集するために調整可能な開口とコリメータの組み合わせが使用され、結果として得られた反射光と分散光はCCDユニットによって検出されます。SX-100は、ユーザーがPCからマシンを制御することができますインターフェースを持っています。このツールにはグラフィカルユーザーインターフェイスも装備されています。このインターフェースを使用すると、スペクトラム可視化、測定設定の選択、ユーザー制御ポイント、自動データ取得、光学パラメータの内部ライブラリなどの機能を利用できます。基本的な資産に加えて、TAEIL AUTOMATIC CONTROL SX-100には、さまざまなデータ分析オプションが付属しています。モデルは、サンプルの画像だけでなく、スペクトル画像やスペクトルを生成することができます。また、Spectrogram、 Peak、 Valley Finder、 Absorbance Calculationなどのデータ分析用のさまざまな数学アルゴリズムも付属しています。これらのアルゴリズムにより、ユーザーはサンプルから取得する必要なパラメータに基づいてデータを分析することができます。SX-100は、さまざまなアプリケーションに信頼性の高いデータを提供できる堅牢で費用対効果の高い分光計です。この装置は、研究および教育目的に適しており、材料やその他の分光学の研究を特徴付けるための貴重なツールです。このシステムは、さまざまな業界のインラインプロセス制御システムなどの産業アプリケーションのデータを生成することもできます。