中古 PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 #293759391 を販売中
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ID: 293759391
Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS)
Ion sources: Ga+, Cs+, O2+
Detection limit: ppm-ppb
Spatial resolution at imaging: >100 nm
Probing depth: 1-3 monolayers in static mode
Depth resolution: 0.5 nm with 500eV sputter gun
Mass range: 0-10.000 amu
Detectable elements: H-U.
PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97は、オーガー電子分光法（AES）とX線光電子分光法（XPS）を用いた表面解析用に設計された最先端の分光計です。この高性能装置は、優れた感度と深度プロファイル機能を備えた材料の表面化学、組成、構造を研究する能力を研究者や科学者に提供します。TRIFT97分光計には半球電子エネルギーアナライザが搭載されており、放出された電子の精密なエネルギー測定を可能にし、サンプル表面の元素組成や化学結合状態を正確に測定することができます。このシステムは、超高真空条件で動作するように設計されており、分析中の表面汚染を最小限に抑え、高い信号対ノイズ比を維持します。この装置は、高度な電子ガンアセンブリを備えており、サンプル表面に焦点電子ビームを放出し、オーガーと光電子の放出を誘導します。これらの放出された電子は、電子エネルギーアナライザによって収集され、高分解能スペクトルを生成するために処理され、サンプルの元素組成と化学環境に関する詳細な情報が明らかになります。PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97分光計は、オーガーとXPSスペクトルを同時に取得するための複数の検出チャネルを備えており、複雑な表面の効率的かつ包括的な分析を可能にします。試料をイオンビームでスパッタリングし、表面組成や化学状態の変化を継続的にモニタリングすることで、深度プロファイリング実験を行うことができます。TRIFT97分光計の主な特徴の1つは、計器制御、データ収集、分析のためのユーザーフレンドリーなインターフェースを提供する高度なデータ収集および処理ソフトウェアです。このソフトウェアは、取得したスペクトルのリアルタイム可視化、ピーク同定、元素濃度の定量化、結合エネルギーに基づく化学状態の解釈を可能にします。また、XPS解像度を向上させる単色X線源、シーケンシャルスパッタリングと解析のための深度プロファイリングモード、制御された温度でのその場での実験のためのサンプル加熱および冷却段階など、さまざまなオプションのアクセサリとアップグレードを備えています。要約すると、PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97は、表面解析アプリケーションに最先端の機能を提供する汎用性と強力な分光計です。材料科学、ナノテクノロジー、触媒、半導体研究など幅広い分野の材料の表面特性の探索に最適です。その直感的なソフトウェアインターフェイスとオプションのアクセサリーは、原子レベルの表面の化学と構造に関する深い洞察を得ることを求める研究者や科学者にとって貴重なツールとなります。
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