中古 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #293759112 を販売中
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ID: 293759112
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS)
Material: Au LMIG.
PHI ELECTRONICS/PHI TRIFT IIIは、分子構造と化学組成を解析して材料の組成を測定するための伝達/反射を使用した高性能の高度な分光計です。時間分解型光音響(TRP)と光電子分光(PES)を1つのプラットフォームで組み合わせ、導体と絶縁体の両方の詳細な解析を可能にします。システムには、複数のサンプルタイプに対応できる自動サンプルシャトルプラットフォームがあり、温度制御と大気操作の両方を提供します。TRP技術は、高度なレーザー光源に基づいており、比較的大規模または太いサンプルのスペクトル情報を提供し、0。01mmの厚さから複数のミリメートルまでのサンプルのより完全な特性評価を可能にします。PES技術は、レーザーによって照らされたときにサンプルが放出する電子の分布を捕捉するために使用されます。これは、材料の分子の結合状態とコアレベルに関する情報を提供します。PHI TRIFT IIIは、研究および産業実験室で使用される強力で汎用性の高いシステムです。幅広いアクセサリーに対応しており、粉末、フィルム、高分子材料、コンシューマー製品、表面など様々なサンプルタイプに対応しています。このシステムには、自動結果検証、結果表示、その他の有用なオプションなど、幅広いデータ処理および表示機能が装備されています。直感的なグラフィックスにより、サンプルコンポーネントを簡単に識別でき、安全で安全な環境でデータを内部に保存するオプションにより、結果を簡単に分析できます。全体的に、物理エレクトロニクスTRIFT IIIは、幅広い業界でサンプル分析に革命をもたらした強力なツールです。TRPとPES技術のユニークな組み合わせ、幅広いサンプルタイプの互換性、直感的なユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、市場で最も先進的な分光計の1つです。
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