中古 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI ESCA #9027216 を販売中

物理エレクトロニクス/PHI ESCAは表面分析に使用される分光計の一種です。X線光電子分光法（XPS）を使用して、元素組成、電子状態、および表面の化学状態を測定します。XPSはX線を用いて表面分子から電子を励起し、異なるエネルギーの電子を放出する。これにより、最大10原子単層深度を測定することができます。PHI ESCA分光計は、深度プロファイル用に設計された超高分解能の分光計です。フィラメントを使用して焦点を当てたX線ビームを生成し、分析するために表面に焦点を当てます。X線を均一なエネルギーレベルに加速するためにモノクロメータが使用され、フォーカスミラーがビームを表面に向ける。PHYSICAL ELECTRONICS ESCA分光計には、放出された光電子を電子検出器に誘導する半球式静電解析装置が装備されています。光電子検出器は電子のエネルギーを測定し、結合エネルギーに変換します。この情報を使用して、サンプル表面の組成を決定することができます。ESCA分光計を使用する利点は、その高感度、高解像度、および小さなサンプルサイズの要件です。また、他の分光計よりも深度プロファイリング能力が高く、サンプルの最大10個のモノレイヤーを分析することができます。半導体、タンパク質、触媒などの材料の表面解析には、このような機器が不可欠であり、それらの組成と特性を徹底的に評価することができます。