中古 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 590 #9073806 を販売中
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ID: 9073806
Scanning Electron Auger (AES) System
Sputter Ion Gun PHI Model 04-303
Specimen Stage PHI Model 15-610
Cylindrical Auger Electron Optics PHI Model 25-110
Stigmator / Amplifier PHI Model 32-070
Scanning System Control PHI Model 20-070A
X-Y Recorder PHI Model 18-020
Auger System Control PHI Model 11-500A
Electron Gun Control PHI Model 18-085
Qty: 3 - Electron Multiplier Supply PHI Model 20-075
Ultek Digital Gauge Control 605-0505
Sony PVM-137 black & white video monitor
Detection Mode Control PHI Model 32-020A
Photon Counter
Neutralization Control PHI Model 32-030
System Mode Control PHI Model 32-060A
Tektronix 606 monitor
Tektronix 607 storage monitor
Tektronix C-58 Camera
Tektronix 604 monitor
Tektronix 604A Monitor
PHI 32-020A Detection mode control
PHI 20-225 Sims system control
PHI 20-105 T.C. Gauge / Oven control
PHI 11-020 Leed electronics
EG&G 1105 Data converter.
PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 590などの分光計は、紫外線、可視光、赤外線スペクトルの電磁放射を測定および分析するために使用される分析装置です。PHI 590は、幅広い用途において可能な限り最高のスペクトル分解能と感度を提供するように設計されたダブルモノクロメーターベースのシングルビーム分光器です。PHYSICAL ELECTRONICS 590は、スペクトル内の特定の点で電磁放射のさまざまな波長成分を分離するために作用する分散元素として凹面回折格子のx-yスキャンを使用します。590は、幅広いダイナミックレンジ、正確なスペクトル機能、および任意の寸法のサンプルに対して任意の解像度でスペクトルの高速スキャンを提供する強力な光学機器です。優れた安定性と精度で構築されており、グレーティングやその他のコンポーネントの環境変動やドリフトによるエラーを排除します。この装置の高分解能は、吸収の強さや波長、前方散乱スペクトル、スペクトルの蛍光などのスペクトル成分の精密な分析と測定を必要とするアプリケーションに最適です。物理エレクトロニクス/PHI 590は、複雑な環境や吸収などのさまざまな条件下で光のスペクトル成分の正確な測定を行うことができます。また、異なる速度と解像度でスペクトルをスキャンすることもできます。Variatorを使用すると、サンプルを通過する光の量を設定し、スキャンの速度と解像度を制御できます。この柔軟性により、ユーザーは分光計を設定して、強度と解像度の面でニーズに合ったサンプルのスペクトルを生成することができます。PHI 590は、電磁スペクトルのUV、可視、赤外範囲を含む幅広いスペクトル成分を測定することができます。その高分解能は、複雑な環境や光の吸収などの条件下でより正確な測定を可能にします。この装置はダイナミックレンジ、パラメータ制御性、高感度を備えており、シミュレーション、原材料分析、医療診断など、研究室やその他の研究環境での幅広い用途に使用できます。PHYSICAL ELECTRONICS 590は、広範囲の電磁放射の詳細なスペクトル分析を提供できる高度な分光計です。その高分解能と異なる条件で異なるスペクトル成分を測定する能力は、科学的研究と分析のための強力なツールとなります。その柔軟性、安定性、精度は、高度な分光計をお探しの方に最適です。
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