中古 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 545 #9049692 を販売中

物理エレクトロニクス/PHI 545は、表面組成と化学結合解析用に設計された高性能スキャンオーガー/X線フォトエレクトロン分光計です。分光計は、試料表面に向けられた電子のビームを生成することによって動作します。ビームが表面要素と相互作用すると、オーガーとX線の信号が生成されます。これらの信号は検出、拡大、解析され、サンプルの表面組成に関する情報が得られます。この分光計は、圧力を制御および監視できる真空密閉チャンバーを備えています。ビーム自体は、エネルギー、エネルギー拡散、中和、および電流の観点から制御することができます。サンプルムーバは、プログラムまたは手動制御の下でx軸とy軸の両方でサンプルを移動することができます。PHI 545 オーガー/X線光電子分光計は、周期表に沿ってホウ素からウランまでの元素を測定するために使用することができます。広い電圧範囲を持ち、80〜4,000 eVのエネルギーが可能です。また、この分光計は、信号検出に使用されるガスイオン化チャンバにより、他の分光計よりも高い分解能を有しています。電源にはさまざまな調整可能な電圧があり、ユーザーはシステムの電源設定をカスタマイズできます。PHYSICAL ELECTRONICS 545 オーガー/X線光電子分光計は、材料研究、分析、表面修正、薄膜の修正、基礎材料評価、薄膜沈着、電気化学試験など、さまざまな用途に使用できます。1µmの空間分解能でサーフェスを分析する機能を備えており、大小の領域に適しています。分光計は、サンプル中の汚染物質や欠陥レベル、化学構造、界面、形態などの測定も可能です。545 オーガー/X線光電子分光計には、データ収集、分析、および操作ソフトウェアが含まれています。このソフトウェアは、データビジュアライザ、データフィルタ、カーブフィッティングアルゴリズム、および分光計を正確で再現可能で正確な測定が可能にするさまざまな分析設定を備えています。ソフトウェアはユーザーフレンドリーでナビゲートが簡単で、学習と使用が簡単です。全体的に、物理エレクトロニクス/PHI 545 オーガー/X線光電子分光計は、表面分析のための強力なデバイスです。これは、化学組成、形態、汚染物質、および欠陥レベルの正確で信頼性の高い測定をユーザーに提供する多数の機能を備えています。使いやすいソフトウェアと調整可能な設定により、表面解析アプリケーションに最適です。