中古 OXFORD X-Max #9375044 を販売中
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ID: 9375044
Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
51-XMX0020 Detector
HITACHI SU-3500 Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 7 Pro
Calibration performance:
Discriminator calibration (FxMxS): 56x36x61
Peak position calibration: 1851
Quant optimization: Cu
Specified resolution: 127 eV
Extrapolated system resolution: 124 eV (Triggered noise strobe)
Measured detector resolution at Mn K Alpha: ≤127 eV
Nickel L-K: >0.85 at 35° TOA and 20 kV
Measured detector resolution at C K Alpha: ≤56 eV
Measured detector resolution at F K Alpha: ≤64 eV
Detector temperature: -60°C
Peltier power: 5.387 W.
OXFORD X-Max分光計は、高分解能の波長分散型X線蛍光(XRF)アプリケーション向けに設計された高度な分光計です。これは、解像度、効率、柔軟性を向上させる新開発の検出器アレイを備えています。最大4つのX線励起源で動作し、要素検出を最適化するために個別に選択できます。検出器配列は最大6つの要素で構成されており、それぞれ異なる角度と発生角度で配置されています。この配置により、広範囲のX線波長を同時にキャプチャすることができ、高解像度の情報を最大限の効率で得ることができます。このアレイは、X線検出効率を最大化し、カウントの変動を最小限に抑えるように設計されたスタックアルゴン充填検出セルで構成されています。また、X-Maxには新しいSi (Li)検出器が搭載されており、軽元素の高検出効率を実現しています。OXFORD X-Maxは、最大10,000カウントのダイナミックレンジを備えており、高いサンプルスループットと信号対ノイズ比の向上を可能にします。また、ビームシェーピング、モノクロメータ減算、ノイズ抑制および最適解像度のパルス動作など、幅広い干渉抑制技術を使用して設計されています。X-Maxは、独自の真空チャンバーとカスタム冷却技術を使用して、長期的な信頼性と性能を確保します。カスタムデザインの屈折光学系は、熱環境を改善し、ドリフトを最小限に抑えて正確な測定値を保証します。OXFORD X-Maxには自動露出制御機能が内蔵されており、サンプルの状態を最適化して解像度を最大化し、露出過多のリスクを最小限に抑えることができます。X-Maxは、データ統合と分析を合理化するように設計された高度なソフトウェアを備えています。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)により、ユーザーは測定を監視し、生のデータを表示し、結果に瞬時にアクセスできます。ソフトウェアはまた、カスタマイズ可能なソートオプションと統合された検索エンジンを備えており、ユーザーはすばやく目的の要素を見つけることができます。全体として、OXFORD X-Maxは、優れたユーザーフレンドリーなソフトウェアと堅牢な検出器アレイを組み合わせた強力なスタンドアロン分光計を提供し、解像度と効率を向上させます。そのユーザーフレンドリーな設計、高解像度機能、および高度なソフトウェアにより、X-MaxはXRF分光法に最適です。
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