中古 KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD #293822764 を販売中
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ID: 293822764
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) system
Dual (Al/Mg) X-Ray anodes
Monochromatic source
Non-monochromatic source
Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) system
Quadruple mass spectrometer
Known issues: broken sputter source, catalysis cell need repair.
KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLDは、幅広い材料に高度な表面解析機能を提供する最先端の分光計です。この洗練された装置は、表面や薄膜の組成、構造、特性に関する高解像度データを提供するように設計されており、学術、産業、政府研究所の研究開発に最適です。Axis Ultra DLD分光計の中心には、一次イオンビームによる爆撃下でサンプル表面から放出される二次イオン、電子、中性の精密な分析を可能にするユニークな磁気セクター分析装置があります。このアナライザは、優れたエネルギー分解能と質量分離を保証する二重集束静電アナライザを備えており、表面種の正確な同定と定量化を可能にします。KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLDの主な特徴の1つは、同じサンプル領域から質量スペクトルと画像データの両方を取得できるデュアルモード動作です。この機能により、研究者は化学情報と空間分布を相関させ、表面組成と地形に関する貴重な洞察を提供することができます。この分光計には、高輝度、低エネルギーガリウムイオン源が搭載されており、スキャンまたは静的モードで動作でき、サンプル分析の柔軟性を提供します。一次イオンビームはサブミクロンのスポットサイズに集中することができ、高解像度のイメージングと複雑な構造を持つ表面の局所分光を可能にします。Axis Ultra DLDには、広範囲のエネルギーと質量をカバーするさまざまな検出器が装備されており、包括的な表面解析が可能です。これらの検出器には、電子乗算器、マイクロチャンネルプレート、ファラデーカップが含まれ、それぞれ、低エネルギーイオンの高感度検出や元素組成の正確な定量化などの特定の分析タスクに最適化されています。KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD分光計は、ハードウェア機能に加えて、高度なデータ収集および解析ソフトウェアによってサポートされており、研究者は複雑な表面解析データを簡単に処理および解釈できます。ソフトウェアは、ピークデコンボリューション、要素マッピング、深度プロファイリング、および統計分析のためのツールを提供し、ユーザーはユーザーフレンドリーなインターフェイスで生データから貴重な情報を抽出することができます。全体として、Axis Ultra DLD分光計は、単一の機器で高感度、高解像度、および汎用性を提供する、表面解析のための強力なツールを表しています。材料科学、ナノテクノロジー、触媒、バイオマテリアルなどの研究において、構造と特性の関係を理解し、新技術を開発するためには、表面特性の詳細化が不可欠であると考えられます。
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