中古 ION TOF TOF SIMS IV #9243595 を販売中

ION TOF TOF SIMS IV （Secondary Ion Mass Spectrometer）は、極めて正確で精密な分子特性評価のためのいくつかの異なる技術を組み合わせた高度な質量分析手法です。この装置は、イオンの質量-電荷（m/z）値と同位体構成を高精度かつ高感度に測定することができます。TOF ION TOF TOF-SIMS IVは、イオン源を利用して試料をイオン化し、電子、レーザー光、または気相化学反応で爆撃する。これらのイオンは電界を通過し、その後加速されて飛行時間（TOF）チャンバーに入ります。次に、イオンは質量に応じて分離され、検出器に向けられます。TOF TOF SIMS IV分光計には、各イオンの飛行時間を測定するタイムオブフライトアナライザ（TOF）が搭載されているため、イオンの質量対充電比を決定することができます。この分析装置はまた、サンプルの同位体組成と元素組成の決定を可能にします。さらに、試料中のイオンの数についての情報を提供するために、装置にはイオン検出器が装備されています。TOF-SIMS IVは表面分析のための高度なツールであり、高分解能で表面のイオン組成を測定することができます。それは原子レベルまで、物質の非常に小さな粒子を検出し、分析することができます。表面分析機能に加えて、無機および有機分析、ならびに創薬および医療診断の応用にも使用されています。ION TOF TOF SIMS IVは、ナノグラムからミリグラムまで、さまざまなサンプルサイズの粒子を分析することができます。また、同位体比を最大10小数点の精度で測定することができ、同位体地理化学を研究する研究者にとって非常に貴重なツールとなっています。全体として、ION TOF TOF-SIMS IVは多用途かつ堅牢な質量分光計であり、さまざまな分野で幅広い用途に対応しています。正確で正確な測定を行う能力は、ナノスケール上の粒子からマクロスケール上の酸や固体まで、さまざまな材料を研究する科学者にとって非常に貴重です。また、創薬や医療診断の研究者に強力なツールを提供し、様々な化合物の組成をよりよく理解することができます。