中古 HORIBA / JOBIN YVON MacroRAM #293668296 を販売中

HORIBA/JOBIN YVON MacroRAMは、サンプルのバルクと表面の両方の特徴を分析するために使用される強力で高解像度の表面およびバルク分光計です。ナノマテリアル、薄膜、表面などのサンプルの高解像度イメージングを可能にする2つの軸に沿ってスキャンする機能を備えています。HORIBA MacroRAMはポータブルでコンパクトで、研究者は実験室内外で測定を行うことができます。この分光計は、超高真空チャンバーと高分解能スペクトル情報を収集できるモノクロメータで構成されています。100 eV以下から100 keV以上の幅広いエネルギーで動作するように設計されています。また、分光計はガス検出器や電子分析器を用いて、サンプルの画像を正確に測定します。さらに、JOBIN YVON MacroRAMはイメージング機能と分光機能を備えており、ユーザーはサンプルを特徴付けるための完全なソリューションを提供します。分光計は、バルクと表面の両方の特徴から散乱光を検出できる高感度レベルを提供し、高精度で解釈しやすいデータを提供します。これには、表面とバルクの特徴をマッピングすることを可能にする複数の検出システムが含まれており、非常に詳細な画像を生成します。さらに、この機器は、解像度の設定の広い範囲を提供し、アプリケーションの広い範囲を可能にします。インストゥルメントに取り付けられた直感的なソフトウェアにより、ユーザーはカスタマイズされたプログラム制御された実験を作成できます。すべてのデータは便利な形式で保存され、後で簡単にアクセスして操作することができます。さらに、MacroRAMは、高価なメンテナンスを必要とせずに長い動作時間を可能にする高度なコンポーネントと材料を備えています。結論として、HORIBA/JOBIN YVON MacroRAMは、バルクおよび表面イメージングの高度な研究に理想的な優れた高精度な分光計システムです。HORIBA MacroRAMは、最新のイメージングおよび分光技術とユーザーフレンドリーなソフトウェアを組み合わせることで、サンプルを分析するための直感的で最先端のソリューションを研究者に提供します。