中古 CAMECA SX-92 #293632926 を販売中

CAMECA SX-92は、二次イオン質量分析（SIMS）を利用して元素組成の材料を分析する最先端の分光計です。堅牢な設計により、高精度な結果を確実に得ることができます。SX-92は、動的視野を持つ二次イオン源を持ち、ほぼすべての角度から測定し、サンプル特性を向上させることができます。電子機器パッケージには、データ収集用のコンピュータ制御アナログ/デジタル変換システムが含まれています。さらに、二次イオンビーム位置決め技術には、データ品質の向上と再現性の向上を目的としたデジタル制御が含まれています。分光計には、光学顕微鏡、高分解能イメージング用の16チャネル二次イオンマスフィルタ（SIMF）も搭載しています。CAMECA SX-92には、サンプルの分析を容易にするように設計された高度なソフトウェアもあります。このソフトウェアには、取得したデータの解釈を容易にするためのピーク解析プログラムとデータラピッド処理アルゴリズムが含まれています。ソフトウェアはまた、実験のパラメトリゼーションを可能にし、データのグラフィカルな表現を提供します。また、SX-92には分析に含めるイオンのライブラリがあります。これにより、インストゥルメントは、特定の材料に通常存在しない要素を検出して分析することができます。CAMECA SX-92には、極めて高解像度の深度プロファイリング用に2つの検出器が選択可能です。1つ目は、ダイナミックレンジと最大10-8 amuの解像度を備えた高解像度のスリット検出器です。2つ目は、10-10 amuまでの分解能を持つ高解像度のソリッドステート検出器です。これらの検出器は、薄膜の特性や材料の電気特性など、さまざまな用途にSX-92を使用することができます。全体として、CAMECA SX-92は強力で汎用性の高い分光計であり、信頼性が高く正確で再現性のあるデータを研究者に提供します。その高度な機能は、材料科学、化学、産業計測における幅広い用途に理想的な機器です。