中古 CAMECA SX-100 #293662816 を販売中

CAMECA SX-100は、ナノスケール化学分析に使用される研究グレード原子プローブ断層撮影（APT）分光計です。優れたイメージング機能により、極めて正確なサブナノメートル精度を提供することができます。CAMECA SX 100は、レーザーベースの技術を使用してサンプル先端の蒸発とイオン化を行います。イオン化された種は、試料から抽出され、Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry （TOF-SIMS）またはAccurate Area Beam Mass Spectrometry （AABMS）を使用して分析されます。SX-100は、3次元の画像再構成とサンプルに関する化学情報の両方を提供することもできます。SX 100は、材料特性評価、トライボロジー、ナノ材料の構造特性評価、生体材料解析など、幅広い用途向けに設計されています。3次元の再構築と高解像度の性能を提供することで、研究者はナノスケールの材料を非常に詳細なレベルで特徴付け、識別することができます。CAMECA SX-100には、自動化されたデータ取得、分析、および可視化のための高度なソフトウェアも装備されています。CAMECA SX 100は、独自の設計と先進的な光学系を備え、卓越したパフォーマンスを提供します。その空間分解能は、通常、水平方向に0。5〜1 nm、垂直方向に約4。5 nmです。質量分解能は通常0。1pm/eVよりも優れており、視野は約300nmで、空間カバレッジは最大400ピットです。その感度は、検出限界が100 ppbの元素を分析できるようなものです。SX-100は、複数のオートメーション機能と大規模なサンプルライブラリを備えているため、さまざまなナノスケール特性評価タスクに適しています。また、取得したデータセットの比較を容易にするためのデータオーバーレイ機能も備えています。SX 100は、高度なPC制御機能を搭載しており、スタンドアロン構成で動作するか、ユーザーの既存設備に統合して直接データを転送できます。全体として、CAMECA SX-100は、詳細なナノスケール化学分析用に特別に設計された高度な研究グレードの原子プローブ断層撮影分光計です。高度なオートメーション機能とデータビジュアライゼーション機能を備えた高精度の製品は、ナノスケール材料の正確な特性評価と識別を求める研究者にとって理想的な選択肢です。