中古 CAMECA NanoSIMS 50 #293703397 を販売中

CAMECA nanoSIMS 50は、幅広い研究アプリケーションをサポートするように設計された先進的な二次イオン質量分析計（SIMS）です。このデバイスは、最新のサンプル分析のための高解像度の深度プロファイリングおよび横画像処理機能を提供します。このデバイスはコンパクトなサイズで、スペースが限られているラボや、改善されたサンプル制御を必要とするさまざまなアプリケーションに最適です。NanoSIMS 50は、従来のSIMS技術を利用して、固体試料に向けた最大4個のプライマリイオンを同時に解析します。その空間分解能は、高分解能で高機能な深度プロファイルを提供し、電極設計の改善により、Z軸で最大数マイクロメートルをカバーすることができます。SIMS技術は、0。2〜1nmの高分解能解析解像度を提供し、サンプルの深さプロファイルから厳密な元素濃度情報を得ることができます。同時深度および側面プロファイル画像は、分析されるサンプルの表面およびバルク化学組成をよりよく理解することができます。最適なパフォーマンスと柔軟性を確保するため、CAMECA NanoSIMS 50には、超高速HVOP技術や強化された自動利得制御（AGC）など、さまざまな高度な機能が搭載されています。さらに、このデバイスは高束束イメージング用に構成されており、材料またはサンプル全体の元素分布の推定に役立ついくつかの情報ポイントを測定することができます。そのDualBeam™源は、SIMS技術を最適化するために、同じプライマリイオンビームと同時にイメージングと深度変更を可能にします。さらに、NanoSIMS 50は、ソフトウェアとの通信、分析システムの動作、プライマリイオンビームの制御を可能にするソフトウェアパッケージで、さまざまな詳細な動作パラメータをユーザーに提供します。さらに、高品質で高精度なサンプルホルダーを備えており、幅広いサンプルに使用できます。軽量で経済的なCAMECA NanoSIMS 50は、さまざまな業界向けの効率的で信頼性の高い分析ツールであり、ユーザーに高い精度で化学組成を測定および分析する能力を提供します。