中古 CAMECA Nanoscan 50 #293774421 を販売中

CAMECA Nanoscan 50
製造業者
CAMECA
モデル
Nanoscan 50
ID: 293774421
ヴィンテージ: 1994
Microprobe 1994 vintage.
CAMECA Nanoscan 50はナノテクノロジー分野で高い評価を受けている最先端の分光計で、ナノスケールの材料を分析する高度な機能を備えています。この分光計には最先端の機能が搭載されており、研究者は非常に高い精度と精度で高解像度の元素マッピング、ラインスキャン、深度プロファイリングを行うことができます。Nanoscan 50の重要な特徴の1つは、これまでにないレベルのディテールで走査透過電子顕微鏡(STEM)解析を行うことです。高度な電子ビーム技術と高度な検出器により、この分光計はイメージングにおけるサブナノメートル分解能を達成することができ、比類のない明瞭さを持つ材料の微細構造と組成の研究に最適です。また、CAMECA Nanoscan 50には焦点イオンビーム(FIB)システムが搭載されており、研究者はサイト固有の断面化とサンプル調製を高精度で行うことができます。この機能は、研究者が損傷や汚染を最小限に抑えてサンプルを抽出し、正確で信頼性の高い結果を得ることができるため、複雑なナノ構造やデバイスの分析に特に役立ちます。Nanoscan 50は、イメージング機能に加えて、元素および化学分析のためのさまざまな分析技術を提供しています。この分光計には、エネルギー分散型X線分光法(EDS)検出器が搭載されており、研究者は優れた感度と速度で元素マッピングと定量化を行うことができます。この機能は、サンプル内の元素の分布を特徴づけ、微量の不純物や汚染物質を識別するために不可欠です。さらに、CAMECA Nanoscan 50は、ナノスケールにおける材料の電子構造と結合特性を解析するための強力な技術である電子エネルギー損失分光法(EELS)をサポートしています。試料を通過する電子のエネルギー損失を測定することにより、研究者は、研究中の物質の化学組成、酸化状態、電子構成に関する貴重な情報を得ることができます。Nanoscan 50には、研究者が高コントラストと分解能でサンプルの地形画像を行うことができる二次電子検出器も装備されています。この機能は、ナノスケール構造の表面の特徴、欠陥、境界を可視化するために不可欠であり、原子レベルでの材料の形態や特性に関する貴重な洞察を提供します。さらに、CAMECA Nanoscan 50は、研究者が複雑な実験結果を簡単に処理および解釈できる高度なデータ収集および分析ソフトウェアを提供しています。分光計はリアルタイムイメージングと分光法をサポートし、研究者はその場でデータを取得して可視化することができ、単一の実験で構造情報と化学情報を関連付けることが容易になります。結論として、Nanoscan 50は、ナノスケールで材料を分析するための比類のない機能を提供する最先端の分光計です。この分光計は、高度な画像処理、分析、データ処理機能を備えており、ナノスケールの精度と解像度を持つ材料の構造、組成、特性を研究するための高性能ツールを必要とするナノテクノロジー分野の研究者に最適な装置です。
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