中古 CAMECA IMS 7F #9226870 を販売中

CAMECA IMS 7Fは、固体サンプルの同位体および元素分析用に設計された高性能、マルチコレクタ、イオンマイクロプローブ分光計です。この装置は、高電圧スパッタイオン源によって生成される焦点を当てた一次イオンのビームと、二次イオンの質量と同位体量を測定するための強力な分光計を利用しています。IMS 7Fは、7セクターの静磁性解析装置を採用しています。7つの高感度、高精度の二次電子および/またはイオン検出器とアクティブドライブ素子の革新的な組み合わせです。これにより、高解像度の集積と感度、および30mm受容で最大150,000の解像力を備えた広いエネルギー範囲を実現します。また、2つのレーザー制御ラスタースキャンシステムを備えており、正確な粒子位置決めが可能で、正確で効率的なプロファイリングが可能です。CAMECA IMS 7Fには、プライマリビームからのノックオン効果を補正する自動物理補正システムが装備されています。その強力な画像処理機能により、高速なデータ取得とノイズ比への最適化された信号を実現します。ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスにより、簡単なセットアップと操作が可能です。さらに、IMS 7Fには、サブミクロンから数百ミクロンのサイズの測定を可能にするシグナルアンプのビーム位置エレクトロニクスシステムが含まれています。これは、サンプルタイプと所望の解像度に応じてビーム位置を変更することによって達成されます。スパッタイオン源の広い範囲は、幅広い評価技術のための低角度分析と高角度測定のオプションを提供します。最後に、CAMECA IMS 7Fは、単一の分析スポットまたは完全な要素マッピングの分析が可能です。また、微細な同位体混合と不規則な分布を決定する機能も備えています。この小型で汎用性の高い分光計は、ナノメートルスケールでの固体試料の特性評価に最先端の性能を提供します。