中古 CAMECA IMS 5F #9375775 を販売中

CAMECA IMS 5Fは、材料分析用に設計された高性能イオンマイクロプローブ分光計です。IMS 5Fには、5軸ラスタービーム、18 cmラスタープローブ（0。2〜5 µmスポットサイズ）、および二次イオン質量分析（SIMS）、レーザー誘発分光法（LIBS）、弾性反復検出などの幅広い検出オプションが装備されています。その機械的安定性と真のリアルタイム解析機能は、材料や表面分析などのアプリケーションに強力な解析ソリューションを提供します。CAMECA IMS 5Fは、サンプル調製要件を最小限に抑え、高い空間分解能、分析感度、高い質量分析分解能を備えています。そのモダンなデザインは、複数の二次イオンと解像度を1kHzの高いレンズモードで同時に取得することにより、優れた性能を提供します。その高度なマルチステージ抽出プラットフォームは、低ノイズフロアを保証します。IMS 5Fは、高度な超高真空（UHV）チャンバーで設計されており、超高真空寿命の高い究極の清潔さと長いサンプルスパッタ寿命を実現しています。システムは高度なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を備えており、学習曲線を排除して使いやすいです。CAMECA IMS 5Fの機能的な利点には、データ取得時にラスターされたビームのスポットサイズ/ドウェル時間/eV解像度を変更する柔軟性が含まれます。また、高度な実行方向といくつかのユーザー定義関数を使用して、最も頻繁に使用されるパラメータを自動的に設定します。IMS 5Fは、サンプルアプリケーションに合わせて幅広い検出器を装備しています。SIMS検出器は電子乗算器とファラデーカップ検出器を備えており、最適な感度とダイナミックレンジを実現しています。また、サンプルの物理構造に組成をよりよく関連付けるために、粒子識別および深度プロファイルに使用するためのRBS検出器を装備することができます。また、CAMECA IMS 5FにはLIBS解析用のUVレーザーアブレーションシステムを搭載し、究極の元素プロファイリングを実現しています。全体として、IMS 5Fは強力で汎用性の高い分光計であり、幅広いサンプル用途に適しています。ハイブリッドインストゥルメントデザインは、複数の個々の検出器を組み合わせて、最高のダイナミックレンジで目的に適した分析を行うことができます。直感的なユーザーインターフェイスシステムにより、ユーザーエクスペリエンスがさらに向上し、生産性が向上します。