中古 CAMECA IMS 4F #9249302 を販売中
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ID: 9249302
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS)
Multiple immersion lens strip
Duoplasmatron and cesium source
Charge auto compensation electron gun for insulator analysis
Liquid nitrogen cooled fracture stage attachment
Cryo pump vacuum system
Dynamic transfer system
Scanning ion image display
Secondary imaging.
CAMECA IMS 4Fは、マイクロイメージングおよびケミカルマイクロ分析用に設計された強力で汎用性の高い分光計です。この多目的な器械は最も困難な測定のための最高の感受性を提供するコラムベースのイオンMicroprobe (CBI)を特色にします。4Fは、元素分析や同位体研究のための信頼性の高い高度な分光計を必要とする研究者や科学者に最適です。CAMECA IMS4F分光計は、高角度分解能とトータルイオンカウント機能を兼ね備えており、スキャンおよびエレメンタルマッピングで最高のパフォーマンスを発揮します。CBI (Column-Based Ion Microprobe)は、0。2 µmの解像度でイメージングとマッピングを行い、素早く正確な元素組成マップを実現します。CBIは、高解像度および高性能のために効率的かつ効果的なカラム配置を使用し、異なるサンプルに対して最適化されたエネルギー設定を行います。IMS-4Fには、SDD(シリコンドリフト検出器)やWD(散乱窓検出器)などの複数の検出器が装備されています。これらの検出器は、ウランまでのすべての元素の同時測定を可能にし、天然に存在する元素の幅広い同位体比と比率の検出を可能にします。また、SDD検出器は従来のS-SDDと比較して解像度が向上しています。測定の精度を確保するために、IMS 4Fは高度な制御システム、大型真空システム、強力なクライオポンプで保護されています。クライオポンプには液体窒素冷却システムと低温アイソレータがあり、分析中のサンプル汚染を防ぎます。ソフトウェアコントロールイオン照射により、放射からさらに保護されます。最後に、IMS4F分光計は、設定、データ分析、その後の実験のためのデータの操作を可能にするさまざまなソフトウェアツールで完全にカスタマイズ可能です。これらのオプションには、ピーク検出、統合、マスキャリブレーション、スプライシング、オーバーレイが含まれます。また、データを意味のある方法で表示するためのユーザーフレンドリーなグラフィカルツールの広い範囲が含まれています。
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