中古 CAMECA IMS 4F / 5F #293799336 を販売中

CAMECA IMS 4F/ 5Fは、固体試料の元素および同位体組成を分析するための高精度および感度を提供する最先端の二次イオン質量分析計（SIMS）です。この先進的な分析装置は、材料科学、地質学、環境科学、半導体研究における幅広い応用のために設計されています。IMS 4F/ 5Fは高分解能の磁気セクターの質量分析装置と高透過静電解析装置を結合し、質量分解能、質量精度、検出感度の点で優れた性能を達成します。この装置は、水素やリチウムなどの軽元素からウランやプルトニウムなどの重元素まで、幅広い元素を分析することができます。CAMECA IMS 4F/ 5Fの主な特徴の1つは、同位体組成を非常に高い精度で分析することです。これは、試料表面から原子をスパッタする高エネルギーの一次イオンビームを使用して、質量分析計で分析される二次イオンを生成することによって達成されます。元素の異なる同位体の相対的な豊富さを測定することにより、IMS 4F/ 5Fはサンプルの歴史と起源についての洞察を提供することができます。CAMECA IMS 4F/ 5Fは、高度な自動化およびデータ処理機能を備えており、ユーザーの介入を最小限に抑えた複数のサンプルの高スループット解析を可能にします。この装置は、薄膜、バルク材料、ナノ粒子など、さまざまな形態のサンプルを分析することができ、さまざまな研究アプリケーションに非常に汎用性があります。元素および同位体解析に加えて、IMS 4F/ 5Fはサンプル内の元素の空間分布に関する情報を提供することもできます。試料表面の一次イオンビームをラスタリングすることで、高解像度の元素画像を生成し、サブミクロンの空間分解能でさまざまな元素の分布を明らかにすることができます。CAMECA IMS 4F/ 5Fには、さまざまなイオン源と分析モードがあり、さまざまなサンプルタイプの汎用的な分析が可能です。例えば、材料の奥行き関数としての元素の分布を調べるために、深度プロファイリングを行うことができます。全体として、IMS 4F/ 5Fは最先端の二次イオン質量分析計であり、固体試料の元素および同位体分析の精度、感度、汎用性において比類のない性能を提供します。CAMECA IMS 4F/ 5Fは、高度な分析機能とオートメーション機能を備え、材料科学、地質学、環境科学、半導体研究など、幅広い分野で活躍する研究者や科学者にとって貴重なツールです。