中古 CAMECA EX300 #9205994 を販売中

CAMECA EX300は、小粒子の化学組成と分子構造の解析用に設計された高性能二次イオン質量分析計（SIMS）です。この装置は、サンプルの信頼性の高い詳細な二次イオン画像を生成することができ、元素組成と濃度の識別を可能にします。EX300は、金属から高分子材料まで、さまざまな材料の研究に使用される高忠実度システムです。400〜3000 eVのエネルギーを持つ様々なイオンを選択することができる単一のイオン銃が装備されています。このイオン銃は、最大5つの角度の範囲でモナトミックイオンを供給するように構成することもできます。CAMECA EX300のイオン源は最大10nAまでの電流範囲が調整可能で、小さな寸法の粒子の分析が可能です。分光器のイオン光学系は、すべてのイオンがサンプル表面に垂直に衝突するように設計されており、横方向の散乱を最小限に抑え、検出効率を最大限に高めています。EX300では、二次イオンイメージング、質量分析、X線蛍光分光の3つの主要な解析要素を使用しています。これらのコンポーネントは、サンプル特性のより包括的なビューを得るために使用されます。二次イオンイメージングは、サンプル構造と組成の3次元表現を提供します。この部品は、粒子形態や物理構造の測定を可能にする二次イオン画像を作成することにより、材料の表面の詳細な説明を提供します。質量分析法は、サンプルの化学組成に関する定性的な情報を得るために使用されます。この成分は、試料中に存在する原子の種類を正確に識別するために、質量の係数を利用して充電します。CAMECA EX300は、X線蛍光分光法（XRF）によるサンプル分析にも使用できます。この成分は、X線の放出を利用して、サンプルの元素組成に関する情報を取得します。要約すると、EX300は強力で信頼性の高い二次イオン質量分析計であり、さまざまな材料の研究に使用できます。二次イオンイメージング、質量分析、およびX線蛍光分光法の組み合わせにより、サンプル特性と組成を包括的に分析することができます。