中古 BRUKER-AXS Vertex 70 #9235728 を販売中

BRUKER-AXS Vertex 70は、ナノスケールの精度で材料の構造と組成を測定するために設計された高性能分光計です。高度な光学系、超高解像度イメージング、データ収集用の専用エレクトロニクスを組み合わせています。この装置は、高分解能の共焦点イメージングステージと、散乱光の強度を測定しながら、2つの同時散乱方向に沿って散乱光を収集する光学機器を備えています。また、Vertex 70はユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを備えているため、科学者は機器の設定をすばやく簡単に変更し、システムと直感的に作業することができます。BRUKER-AXS Vertex 70は、高性能と高精度を確保するために設計された幅広い機能を備えています。高度な光学系により、分子スケールの分解能で有機物や無機物の構造を測定することができます。超高解像度イメージングにより、サンプルに最大14ナノメートルの構造ディテールが可能です。その専用エレクトロニクスは、光学ユニットから正確なデータ取得を提供します。また、分光計は完全に統合されたデジタル顕微鏡を備えており、研究者はサンプルにズームしてサブナノメータレベルで分析を行うことができます。さらに、装置の高精度光学は、科学者に幅広い能力を提供します。この機械には非常に効率的な偏光フィルタが装備されており、研究者は光の複数の偏光状態を分析してサンプルの構造と組成を明らかにすることができます。また、分光計には高精度な検出ツールが搭載されており、1つのソースから複数の方向に伝播する光を検出することができ、回折角度を正確に測定することができます。Vertex 70には直感的なソフトウェアインターフェイスが付属しており、インストゥルメントの設定に簡単にアクセスして変更できます。ユーザーは、明るさ、コントラスト、色強度などの画像設定にアクセスして変更することができます。このソフトウェアは、ポイント変換、ピークピッキング、ピーク解析、ピークフィッティング、プロットなどの強力なグラフィカル解析機能も提供します。BRUKER-AXS Vertex 70は強力で汎用性の高い分光計で、研究者はナノスケールの構造と組成の精密測定を行うことができます。高度な光学、超高解像度イメージング、専用エレクトロニクスにより、科学者は分子スケールの精度で構造の詳細を明らかにすることができます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェースにより、分光計を使いやすく、研究者は機器の設定を素早く簡単に変更し、アセットを直感的に操作することができます。