中古 BRUKER-AXS Vertex 70 #293649663 を販売中
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ID: 293649663
FTIR Spectrometer
HYPERION 1000 and HYPERION 2000 IR microscope
HYPERION 3000 Imaging microscope
IMAC (imaging chamber)
HTS- XT module (High Throughput Screening Extension)
Microbiological module
FT Raman module (RAM II)
FIR bolometer.
BRUKER-AXS Vertex 70はX線回折(XRD)の研究用に設計された分光計です。Vertex 70は、さまざまなサンプルの構造、特性、ダイナミクスに関する詳細な情報を提供することができる高性能の機器です。BRUKER-AXS Vertex 70には、高解像度の単色Cu X線源、高精度サンプルステージ、検出器アセンブリ、データ収集および分析システムが搭載されています。X線ソースの波長は0。15418 nmで、サンプルパラメータの小さな微妙な変化を検出することができます。サンプルステージは、3次元空間で移動し、X線ビームに対してサンプルを正確に配置することができます。これと組み合わせると、Vertex 70は1°の角度範囲を持ち、0。0004°までの特徴を解決することができます。検出器アセンブリには、X線回折ピークに敏感なシンチレーション検出器のペアがあり、高い回収効率を可能にします。BRUKER-AXS Vertex 70には、データ収集、分析、表示のための高度なソフトウェアを備えた統合データ収集システムもあります。このソフトウェアを使用すると、ユーザーは設定だけでなく、特定のタスクのための機能をカスタマイズすることができます。自動化されたデータ収集のための機能と、事前に定義された実験のライブラリも含まれています。Vertex 70には、データを視覚化するためのさまざまなグラフィカルツールを備えたユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスもあります。BRUKER-AXS Vertex 70は、鉱物、ポリマー、結晶、医薬品、ナノ材料など、さまざまな材料やパラメータの分析に使用できます。分光計は、サンプルの分析に使用されるだけでなく、材料の構造とその表面粗さ、温度、ひずみ、結晶性などの特性を調べるために使用することができます。触媒、腐食、薄膜製剤などの研究分野でも使用されています。全体的に、頂点70はX線回折の詳細な研究のために特別に設計された高性能の分光計です。高解像度のX線源と高精度のサンプルステージを備え、統合されたデータ収集および分析システムを備えています。さらに、分光計は、幅広い材料やパラメータを高い精度で分析することができます。
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