中古 BRUKER-AXS S4 Explorer #9050537 を販売中

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製造業者
BRUKER-AXS
モデル
S4 Explorer
ID: 9050537
ヴィンテージ: 2004
Wavelength dispersive XRF System Includes: (20) Sample cups X-Ray replaced Rh tube 60-Position sample changer Set up discs Semi-quantitative / full quantitative analysis Solid or liquid samples Computer and installed Bruker software Original software disks and manuals Process: Chemical analysis Detection limit: % to ppm (dependent on sample) Range: F-U 1 kW 2003 vintage.
BRUKER S4 Explorerは、さまざまな材料の定性的かつ定量的な分析を提供するために使用される分光計です。グラデーション磁石技術、反射および伝送光学技術、および高度なアプリケーション固有のソフトウェアを組み合わせて、幅広い材料パラメータを迅速かつ正確に測定します。分光計には4つのテスラ磁石があり、均一な周波数場環境を提供します。この環境は、測定に必要な最高の精度と精度を保証します。その磁石はまた温度の変動を防ぐのを助けるために低温の温度に冷却されます。これにより、磁石は非常に均一な周波数帯を生成することができ、測定の精度を高めるのに役立ちます。S4 Explorerは、最適化されたBRUKER反射と伝送光学を備えています。この光学パッケージは、高解像度の広帯域スペクトルベースのイメージングと高度な伝送光学システムを提供します。このシステムは、複数の解像度増加技術を組み合わせて、感度と精度を向上させるように設計されています。分光計は、小さなサンプルから測定することができ、金属、ポリマー、複合材料など、さまざまな材料タイプに対応できます。さらに、湿度、膜厚、膜構造、薄膜の厚さも測定できます。これにより、分光計は、産業および科学分野における幅広い用途に使用することができます。BRUKER S4 Explorerソフトウェアは、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスで設計されており、ユーザーのワークステーションから分光計を簡単に操作および制御できます。このインターフェースにより、サンプル感度、測定範囲、データ取得パラメータなど、テストに必要なパラメータを簡単に設定できます。ソフトウェアはまた、結果を簡単に解釈するための分析やプロットツールの様々な提供しています。S4 Explorerは、さまざまな産業および科学的用途において、さまざまな材料パラメータの高精度な測定を提供できる汎用性の高い分光計です。その磁石技術、ソフトウェア、光学はすべて、その精度と精度に貢献し、多種多様な材料のさまざまな種類の測定のための信頼性の高いツールになります。
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