中古 APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar I #87628 を販売中

APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar Iは、材料や薄膜の表面解析用に設計されたX線光電子分光計（XPS）です。この装置は、試料表面上のX線ビームをスキャンし、表面から放出された光電子を測定することによって動作し、表面組成や化学的および物理的構造に関する貴重な情報を提供します。Pulsar Iの構造的な汎用性と高度なデータ収集により、超高真空から高圧および温度まで、さまざまな実験形式や環境でデータを取得できます。APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar Iは、強力で汎用性の高いμ mレベルのスキャンシステムと、強力な表面感度の高いX線源を組み合わせています。このX線源は、水素からウランまで幅広い元素のエネルギー化されたX線を生成することができ、さまざまな材料組成物を分析する際に最大限の柔軟性を得ることができます。Pulsar Iのスキャンユニットは、最大1 μ mの解像度の横方向スキャンを可能にしながら、小さなスポットサイズ（1。25 μ m）を使用して深度情報を取得します。このスキャンにより、サンプルの表面と深い層を測定することができ、横方向と深さの解像度は1 μ mです。APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar私はまた、高解像度のデータ収集を特長としています。その印象的なエネルギー分解能により、異なる元素のX線光子エネルギーの微小な違いを区別することができます。また、大面積のX線検出器を使用することで、電子数を低く抑えながら、より大きなサンプルを測定できるため、信号対雑音比が向上します。優れたエネルギー分解能と高いカウントレートを組み合わせることで、より高速なデータ取得と薄膜やその他の薄層サンプル構造のより正確な測定が可能になります。最後に、このツールには、ピークフィッティングやデコンボリューションなど、さまざまなデータ分析オプションが付属しています。これにより、研究者はXPSデータを迅速に分析および解釈し、結果を視覚化するための強力なツールを提供します。Pulsar Iは表面解析に最適化された高度な分光計です。汎用性の高い設計により、さまざまな環境でさまざまなサンプルを測定でき、高解像度のデータ収集機能により、サンプルから正確で正確なデータを取得できます。表面や薄膜の分析に最適な装置であり、データ解析オプションも豊富で、貴重な情報を簡単に抽出することができます。