中古 WENTWORTH CMP-100 #114331 を販売中

WENTWORTH CMP-100
製造業者
WENTWORTH
モデル
CMP-100
ID: 114331
probe card test station.
WENTWORTH CMP-100は、シリコン集積回路デバイスのテストとプロービング用に設計されたプローバーです。低k誘電体、ボンドアルミニウム、C4s、 BGAはんだボールを使用して、先進半導体デバイスの試験およびプロービングを行います。CMP-100は、高度な技術を組み合わせて、各プローブの移動を正確に制御し、必要な電圧と電流レベルを試験対象のデバイスに正確に適用することができます。WENTWORTH CMP-100には、独自の高精度LKD (Low-k Dielectric)材料が搭載されており、信号トレーサビリティ、信号分岐、およびデバイスイメージングに関するさまざまな利点を提供します。この材料は、増え続ける集積回路設計の複雑さに対処するために開発され、信号信号のトレーサビリティと伝搬の精度を高めることができます。さらに、LKD材料は、信号分岐と他のプローバーよりも正確なデバイスのイメージング結果も生成します。このプローバは、2。5ミクロンまでの精度で、異なるBGAはんだボールのピッチを持つデバイスをプロービングすることもできます。CMP-100の高精度およびキャリブレーション機能により、最も正確なプローブ位置決めが可能となり、可能な限り最も正確な試験結果が得られます。また、WENTWORTH CMP-100は高度なC4技術を搭載しており、多層/複合体コンポーネントの高速な電気的プロービングを可能にします。また、接合アルミニウム技術により、場所に到達するのが困難な迅速で効率的なプロービングを可能にします。精度と精度に加えて、過保護回路などのさまざまな安全機能CMP-100備えており、テスト中のデバイスへの損傷を防ぎます。さらに、WENTWORTH CMP-100には、ユーザーフレンドリーなインターフェースや堅牢で拡張性の高いテストシステムなど、さまざまなユーザーフレンドリーな機能もあります。これらの機能により、CMP-100は高度なデバイスのテストとプロービングにおいて貴重なツールとなります。
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