中古 TERADYNE Javelin ESI-1004 #9239692 を販売中

TERADYNE Javelin ESI-1004 Proberは、半導体業界の信頼性分析および故障解析用に設計された先進的なテストプラットフォームです。生産段階から研究開発段階まで、テストのプロセスを自動化し、合理化するように設計されています。汎用性の高い強力な機能を備えたJavelin Proberは、プロトタイピングから製造まで、あらゆる用途で半導体コンポーネントをテストするための究極のツールです。Javelin Proberは、すべてのタイプの半導体の検証と特性評価のための速度、精度、および柔軟性の優れた組み合わせを提供します。Javelin Proberの精密ウェハハンドリングシステムは、最小のマイクロプロセッサから最大のメモリコンポーネントまで、すべてを処理できます。特殊なテスト信号は、ほとんどすべてのテスト仕様に合わせて迅速に生成または変更することができ、ユーザーは問題をすばやく特定して新しい設計を検証することができます。Javelin Proberには高度なプロービング技術も搭載されており、0。2 µm幅、20mm幅の部品の試験が可能です。さらに、n型、 p型、静的、動的テストなど、アプリケーションに応じて4種類のプロービングが可能です。プローブヘッドを強化したJavelin Proberは、最大深度4mmで、18、12、および8インチまでの基板に対応できます。その広いテストカバレッジは、半導体デバイスのさまざまな部分のテストに最適です。高度なプロービング機能に加えて、Javelin Proberには、ユーザーが設計のパフォーマンスを向上させるための高度なベンチマークおよび分析ツールが装備されています。内蔵のICエディタを使用すると、製造に進む前に問題をすばやく特定して修正できます。さらに、Javelin Proberの組み込みの「Auto-Test」機能により、ユーザーからわずかなキーストロークですべてのコンポーネントを完全に評価することができ、プロジェクトのテスト効率を向上させます。また、Javelin Proberは、仕様レベル計算への自動調整、応力と温度応力のシミュレーション、組み合わせロジックデバイスのサポートなどの高度な最適化機能を提供しています。プローブヘッドの二軸運動システムは、基板が角度であっても、すべての試験が正確に行われるようにします。要するに、Javelin ESI-1004 Proberは、業界で最も先進的な半導体デバイスの信頼性と分析のためのテストプラットフォームです。Javelin Proberは、高速、高精度、柔軟性、高度なプロービングおよび解析機能を備え、あらゆる半導体デバイスの性能をテストおよび改善するための究極のツールです。