中古 TERADYNE ESI-1004N #9216191 を販売中

TERADYNE ESI-1004N Proberは、高度な高精度、高スループットの自動半導体テストおよび分析システムです。開発および製造段階において、集積回路（IC）を正確にテスト、トラブルシューティング、診断するために設計されており、信頼性と性能を確保するのに役立ちます。ESI-1004Nは、プロービング特性の包括的な範囲を提供し、ユーザーは迅速かつ効率的な操作とともに、データ豊富な分析を得ることができます。TERADYNE ESI-1004Nは、4軸ガントリーと1 mmのスタンドオフ機能を内蔵しており、高精度と高精度を実現し、結果も向上しています。タッチスクリーンディスプレイは、ユーザーフレンドリーなインターフェイスとラッチ操作をサポートしているため、さまざまな種類のテスト操作を効率的に実行できます。プローバには、耐振動性と精密なリニアベアリングによって駆動される独立したアップダウンX軸が装備されています。Z高さおよび可変圧力制御、自動チューニングプログラムを提供し、調整可能なフォーカスと倍率システムにより、サンプルレイアウトを正確に表示できます。ESI-1004Nは、フラッシュメモリやマイクロプロセッサなど、さまざまなプロトタイプや量産ICをテストし、分析することができます。そのCCDベースの光学分解能は0。4ミクロンという小さい特徴を検出することができ、そのタイトなアライメントの再現性は降伏損失を最小限に抑えるのに役立ちます。さらに、Proberは自動フォーカシングとツール管理を備え、ユーザーの貴重な時間を節約します。ソフトウェアには、デバッグ機能とCCDイメージング機能が含まれており、特定の機能から情報を抽出するために使用できます。また、弱い成分や不良成分を識別するために使用される高度な統計分析機能も含まれています。このシステムは、その長期的な信頼性と耐久性を保証し、さまざまな大まかな処理資格を満たしています。省スペース設計により、生産ラインでの設置と使用が容易になり、静かな動作ノイズレベルでは混乱を最小限に抑えます。TERADYNE ESI-1004Nは、ICテスト、分析、デバッグのための非常に貴重なツールであり、大幅に改善された結果を提供し、生産コストを削減します。